[发明专利]基于微电子封装工艺的湿/湿差动压力感测器设计有效

专利信息
申请号: 200910246891.8 申请日: 2009-11-18
公开(公告)号: CN101900625A 公开(公告)日: 2010-12-01
发明(设计)人: P·罗斯戈;A·布拉德利;R·S·琼斯;L·F·里克斯 申请(专利权)人: 霍尼韦尔国际公司
主分类号: G01L19/06 分类号: G01L19/06;G01L9/06;G01L9/12
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 李娜;李家麟
地址: 美国新*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 微电子 封装 工艺 差动 压力 感测器 设计
【权利要求书】:

1.一种差动压力感测器设备,包括:

顶帽,所述顶帽具有形成于其中的孔,所述顶帽附着到与压力感测膜片相关的MEMS-配置的压力感测管芯的顶面,其中所述顶帽将介质与多个线接合焊盘隔离;以及

密封,所述密封对所述压力感测管芯过封装以便使得所述被感测的介质与所述压力感测膜片的所述顶面和所述底面相接触而不与所述多个线接合焊盘以及在所述压力感测管芯的所述顶面上的多个金属化表面相接触,从而提供具有湿-湿压力感测能力的差动压力感测器设备。

2.如权利要求1所述的设备,其中所述压力感测膜片被配置为并入约束物,所述约束物具有形成于其中的孔,所述约束物有助于为所述压力感测膜片提供应力释放。

3.如权利要求1所述的设备,其中所述顶帽利用晶片接合工艺被附着到所述MEMS-配置的压力感测管芯。

4.如权利要求1所述的设备,其中所述MEMS-配置的压力感测管芯使用管芯附着工艺被接合到基板。

5.如权利要求1所述的设备,其中所述密封包括垫片和/或粘性密封,从而对所述顶帽的顶面提供压力密封。

6.如权利要求1所述的设备,其中利用硅压阻技术和/或电容技术来制作所述MEMS-配置的压力感测管芯。

7.如权利要求3所述的设备,其中所述晶片接合工艺包括阳极接合工艺和/或玻璃粉接合工艺。

8.如权利要求2所述的设备,其中所述顶帽和所述约束物包括硅和/或玻璃。

9.一种差动压力感测器设备,包括:

顶帽,所述顶帽具有形成于其中的孔,所述顶帽附着到与压力感测膜片相关的MEMS-配置的压力感测管芯的顶面,其中所述顶帽将介质与多个线接合焊盘隔离;以及

密封,所述密封对所述压力感测管芯过封装以便使得所述被感测的介质与所述压力感测膜片的所述顶面和所述底面相接触而不与所述多个线接合焊盘以及在所述压力感测管芯的所述顶面上的多个金属化表面相接触,从而提供具有湿-湿压力感测能力的差动压力感测器设备;以及

约束物,其中所述压力感测膜片被配置为并入所述约束物,所述约束物具有形成于其中的孔,所述约束物有助于为所述压力感测膜片提供应力释放。

10.如权利要求9所述的设备,其中:

所述顶帽利用晶片接合工艺被附着到所述MEMS-配置的压力感测管芯,其中所述晶片接合工艺包括阳极接合工艺和/或玻璃粉接合工艺;以及

所述顶帽和所述约束物包括硅和/或玻璃。

11.如权利要求9所述的设备,其中所述MEMS-配置的压力感测管芯利用管芯附着工艺被接合到基板。

12.如权利要求9所述的设备,其中所述密封包括垫片和/或粘性密封,从而对所述顶帽的顶面提供压力密封。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于霍尼韦尔国际公司,未经霍尼韦尔国际公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910246891.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top