[发明专利]双基准物的差压检漏方法

权利要求书

1.双基准物的差压检漏系统，包括被测物，两个大小、材料和形状都完全相同的小基准物即基准物I和基准物II、差压传感器、绝压计以及多个控制阀门V1-V5，基准物I通过控制阀门V1与绝压计和被测物相连，基准物II通过控制阀门V2与被测物相连，它们分别记录被测物在测试阶段初始时刻和终止时刻的压力状态，通过阀门V3-V5来控制基准物I、基准物II和被测物之间的充放气、平衡和测试过程；通过差压传感器来测量两个基准物之间的差压，从而确定出漏率。

2.双基准物差压检漏的方法，包括以下流程：

1)充气：将工作气体同时充入被测物和两个小基准物，直到达到航天器舱体检漏的工作压力；

2)平衡：在被测舱体和两个小基准物保持连通的情况下，将被测舱体和两个基准物静置一段时间，直到被测舱体和两个基准物内的压力和温度达到平衡；

3)测试：测试阶段的初始时刻将基准I与被测舱体隔离，此时被测舱体的压力状态将被保存在基准I内。测试阶段的终止时刻，将基准II与被测舱体隔离，此时被测舱体的压力状态将被保存在基准II内；最后测量两个基准物之间的差压，即可消除环境温度变化对检漏结果的影响；

4)放气：测试结束后，再次使被测航天器舱体和两个基准物连通，将工作气体从基准物和被测航天器舱体种放出，从而完成检漏过程。

3.如权利要求2所述的双基准物差压检漏的方法，其中，充气步骤1)中采用了两个基准物，两个基准物完全相同，但基准物的体积与被测舱体的体积相比小很多。

4.如权利要求2或3所述的双基准物差压检漏的方法，测试步骤3)中，先由两个基准物分别记录测试阶段初始时刻和终止时刻被测舱体内的压力状态，再测量两个相同的基准物之间的差压。