[发明专利]显示器无效
申请号: | 200910253755.1 | 申请日: | 2009-12-17 |
公开(公告)号: | CN101751857A | 公开(公告)日: | 2010-06-23 |
发明(设计)人: | 山下淳一;山田二郎;内野胜秀 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | G09G3/32 | 分类号: | G09G3/32 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 杜娟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示器 | ||
技术领域
本发明涉及显示器,具体来说,涉及能够执行高速且精确的烧伤(burn-in)校正的显示器。
背景技术
近年来,正在积极开发使用有机EL(电致发光)装置作为发光装置的平面自发光面板(EL面板)。有机EL装置具有二极管特性,并利用有机薄膜响应于对其施加的电场而发光的现象。有机EL装置可以通过施加10V或更低的电压来驱动,因此它具有低功耗。此外,有机EL装置是自己发光的自发光装置。因此,不必设置照射部件,因此可以容易实现重量和厚度的减小。此外,有机EL装置的响应速度高达约几μS,这使得在显示运动图像时在EL面板中没有残像。
在像素中使用有机EL装置的平面自发光面板中,正在积极开发有源矩阵型面板,其中在每个像素中整体地形成薄膜晶体管作为驱动装置。 例如,在JP-A-2003-255856、JP-A-2003-271095、JP-A-2004-133240、JP-A-2004-029791以及JP-A-2004-093682中描述了有源矩阵型平面自发光面板。
发明内容
在有机EL装置中,亮度效率与发光量和发光时间成比例地劣化。由电流值与亮度效率之积来表示有机EL装置的发光亮度,因此,亮度效率的劣化会导致发光亮度的降低。通常,在画面上显示视频时,很少会在各像素中一致地显示任何视频,并且在像素之间发光量不同。因此,即使在相同的驱动条件下,由于过去的发光量和发光时间的差异,各像素的发光亮度的劣化程度也是不同的,这导致会在视觉上发觉亮度劣化存在变化的现象。将在视觉上发觉亮度劣化存在变化的现象称为烧伤(burn in)现象。
在EL面板中,为了防止烧伤现象,测量每个像素的发光亮度,并执行烧伤校正以校正发光亮度的劣化。然而,利用根据现有技术的烧伤校正,不能充分执行校正。
因此,期望能够执行高速且精确的烧伤校正。
根据本发明的一个实施例的显示器包括:面板,在该面板中布置有响应于视频信号而发光的多个像素;光接收传感器,其根据每个像素的发光而输出光接收信号;计算装置,用于基于所述光接收信号来计算校正数据;以及驱动控制装置,用于基于校正数据来校正所述视频信号。使用折射率等于或小于构成所述面板的最外侧基板的折射率的材料将所述光接收传感器粘接到所述基板。
根据本发明实施例,使用折射率等于或小于构成所述面板的最外侧基板的折射率的材料将所述光接收传感器粘接到所述基板。这样,测量按矩阵排列的多个像素中的每个像素的发光亮度,使用所测得的发光亮度来计算针对由于依赖于时间的劣化而导致的亮度的劣化的校正数据,并基于该校正数据来校正亮度的劣化。
根据本发明实施例,可以执行高速且精确的烧伤校正。
附图说明
图1是示出根据本发明实施例的显示器的构造示例的框图。
图2是示出EL面板的构造示例的框图。
图3是示出从像素发出的颜色的排列的图。
图4是示出像素的详细电路构造的框图。
图5是图解说明像素的操作的时序图。
图6是图解说明像素的另一操作示例的时序图。
图7是与烧伤校正控制有关的显示器的功能框图。
图8是图解说明初始数据获取处理的示例的流程图。
图9是图解说明校正数据获取处理的示例的流程图。
图10A和10B是示出距光接收传感器的距离与传感器输出电压之间的关系的图。
图11是示出传感器输出电压与校正精度之间的关系的图。
图12是示出已知的显示器中的EL面板和光接收传感器的布置的剖视图。
图13是示出图1的显示器中的EL面板和光接收传感器的布置的剖视图。
图14A和14B是示出现有技术和本发明的效果的比较结果的图。
具体实施方式
<本发明实施例>
[显示器的构造]
图1是示出根据本发明实施例的显示器的构造示例的框图。
图1的显示器1包括EL面板2、具有多个光接收传感器3的传感器部件4以及控制部件5。EL面板2使用有机EL(电致发光)装置作为自发光装置。光接收传感器3是测量EL面板2的发光亮度的传感器。控制部件5基于从所述多个光接收传感器3获得的EL面板2的发光亮度来控制EL面板2的显示。
[EL面板的构造]
图2是EL面板2的构造示例的框图。
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