[发明专利]非易失性存储器装置及其损耗平均方法无效

专利信息
申请号: 200910254040.8 申请日: 2009-12-15
公开(公告)号: CN102096637A 公开(公告)日: 2011-06-15
发明(设计)人: 周晓薇;欧富国 申请(专利权)人: 点序科技股份有限公司
主分类号: G06F12/02 分类号: G06F12/02
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘芳
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 非易失性存储器 装置 及其 损耗 平均 方法
【权利要求书】:

1.一种非易失性存储器的损耗平均方法,包括:

将该非易失性存储器分割出一数据存储区及一空白阵列区;以及

比较该空白阵列区中多个数据块的历史程序化次数;以及

将该空白阵列区中历史程序化次数最大的数据块改配置在该数据存储区,以及将该数据存储区中多个数据块之一改配置在该空白阵列区。

2.根据权利要求1所述的非易失性存储器的损耗平均方法,其中当该数据存储区需要被写入一更新数据时,该空白阵列区被用来存放该更新数据。

3.根据权利要求2所述的非易失性存储器的损耗平均方法,其中写入该更新数据前的步骤包括接收一存取命令,其中该存取命令针对一目标逻辑块地址写入该更新数据。

4.根据权利要求2所述的非易失性存储器的损耗平均方法,所述写入该更新数据的步骤包括:

在写入该更新数据至一实体块地址对应的数据块时,将记录在该实体块地址对应的数据块的备用区中的历史程序化次数加1。

5.根据权利要求1所述的非易失性存储器的损耗平均方法,其中当抹除一实体块地址对应的数据块时,将记录在该实体块地址对应的数据块的备用区中的历史程序化次数加1。

6.根据权利要求1所述的非易失性存储器的损耗平均方法,还包括:

当同一逻辑块地址被连续存取的次数达一预设值时,进行一次所述比较该空白阵列区中多个数据块的历史程序化次数,以将该空白阵列区中历史程序化次数最大的数据块改配置在该数据存储区,以及将该数据存储区中多个数据块之一改配置在该空白阵列区。

7.根据权利要求1所述的非易失性存储器的损耗平均方法,还包括:

当一逻辑块地址连续进行数据重新排序的次数达一预设值时,进行一次所述比较该空白阵列区中多个数据块的历史程序化次数,以将该空白阵列区中历史程序化次数最大的数据块改配置在该数据存储区,以及将该数据存储区中多个数据块之一改配置在该空白阵列区。

8.根据权利要求1所述的非易失性存储器的损耗平均方法,其中从该数据存储区改配置在该空白阵列区的数据块,是从该数据存储区的所述多个数据块中随机选出的。

9.根据权利要求1所述的非易失性存储器的损耗平均方法,其中从该数据存储区改配置在该空白阵列区的数据块,是依据该数据存储区中所述多个数据块的实体块地址的次序所选出的。

10.根据权利要求1所述的非易失性存储器的损耗平均方法,还包括:

依据该非易失性存储器的多个逻辑块地址建立一对应查找表,其中该对应查找表中包括多个存储栏位,用以存储该数据存储区的多个实体块地址。

11.根据权利要求10所述的非易失性存储器的损耗平均方法,其中该对应查找表建立在静态存储器或动态存储器。

12.根据权利要求1所述的非易失性存储器的损耗平均方法,还包括:

动态调整该数据存储区及该空白阵列区的存储容量。

13.一种存储器装置,包括:

一非易失性存储器;以及

一控制器,耦接该非易失性存储器,将该非易失性存储器分割出一数据存储区及一空白阵列区,其中当该控制器进行一损耗平均方法时,所述损耗平均方法包括比较该空白阵列区中多个数据块的历史程序化次数,以将该空白阵列区中历史程序化次数最大的数据块改配置在该数据存储区,以及将该数据存储区中多个数据块之一改配置在该空白阵列区。

14.根据权利要求13所述的存储器装置,其中当该数据存储区需要被写入一更新数据时,该空白阵列区被用来存放该更新数据。

15.根据权利要求14所述的存储器装置,其中该控制器还接收一存取命令,其中该存取命令针对一目标逻辑块地址写入该更新数据。

16.根据权利要求15所述的存储器装置,其中还包括:

一传输接口,耦接该控制器,用以接收该存取命令。

17.根据权利要求14所述的存储器装置,其中该控制器还在写入该更新数据至一实体块地址对应的数据块时,将记录在该实体块地址对应的数据块的备用区中的历史程序化次数加1。

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