[发明专利]用于确定失真校正数据的方法和装置

权利要求书

1.一种用于确定对用磁共振系统(1)采集的磁共振图像(BD)进行失真校正的失真校正数据(VKD)的方法，至少包括以下方法步骤：

基于梯度线圈的导线几何形状计算表示磁共振系统(1)的梯度线圈的磁场的开始球函数(SKF)；

在使用定义的测量对象(O)的条件下确定表示由梯度线圈产生的磁场的三维参数图(PK_x，PK_y，PK_z)，其中，对于涉及的梯度线圈设置定义的梯度强度；

基于所述参数图(PK_x，PK_y，PK_z)并且基于利用断开的梯度线圈确定的参考参数图(PK₀)产生偏差参数图(APK)；

在使用所述开始球函数(SKF)的条件下通过将表示梯度线圈的磁场的球函数拟合到所述偏差参数图(APK)来确定梯度磁场的球函数系数(A(1，m)，B(1，m))；

基于该经拟合的球函数的球函数系数(A(1，m)，B(1，m))确定所述失真校正数据(VKD)。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，作为参数图(PK_x，PK_y，PK_z)确定相位图(PK_x，PK_y，PK_z)。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述球函数根据位置描述相位。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述球函数根据位置描述磁场强度。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，将所述相位图(PK_x，PK_y，PK_z)和/或所述参考相位图(PK₀)换算成磁场强度图。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，将偏差相位图(APK)换算成偏差磁场强度图。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，为了形成偏差参数图(APK)，确定所述参数图(PK_x，PK_y，PK_z)和参考参数图(PK₀)之间的差。

8.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，为了形成偏差参数图(APK)，确定所述参数图(PK_x，PK_y，PK_z)和所述参考参数图(PK₀)之间的商。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其特征在于，对在不同空间方向上产生磁场梯度的多个梯度线圈实施该方法。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法，其特征在于，为了确定所述参数图(PK_x，PK_y，PK_z)和/或所述参考参数图(PK₀)，使用快速三维磁共振测量序列。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的方法，其特征在于，为了确定所述参数图(PK_x，PK_y，PK_z)和/或所述参考参数图(PK₀)，使用梯度回波序列。

12.一种用于对利用磁共振系统(1)采集的磁共振图像(BD)进行失真校正的方法，其中，借助根据权利要求1至11中任一项所述的方法来确定失真校正数据(VKD)。