[发明专利]基于计量保证方案的统计控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量过程的基于计量保证方案的统计控制方法，特别是涉及一种对测量设备以及计量标准的统计控制，亦可适应于对生产过程的统计控制。

背景技术

控制图是对测量过程是否处于统计控制状态的一种图形记录。它能判断并提供测量过程中是否存在异常因素的信息，以便于查明产生异常的原因，并采取措施使测量过程重新处于统计控制状态。

控制图分为平均值控制图和标准偏差控制图或极差控制图，如果平均值控制图出现异常，则表明测量过程受到不受控的系统效应的影响；而若标准偏差控制图或极差控制图出现异常，则表明测量过程受到不受控的随机效应的影响。标准偏差控制图和极差控制图可任选一种，一般情况下，当组内测量次数选择较少时可采用极差控制图，反之可采用标准偏差控制图。

目前国内对测量过程进行统计控制的依据是GB/T 4091-2001《常规控制图》，它等同采用国际标准ISO8258：1991《休哈特控制图》(Shewhartcontrol charts)及其1993年1号修改单。在JJF1033-2008《计量标准考核规范》中，也提出了采用控制图的方法对测量过程是否处于统计控制状态进行控制，并在附录C中详细介绍了休哈特控制图，同时说明对于准确度较高且重要的计量标准，建议尽量采用控制图对其测量过程进行连续和长期的统计控制。

休哈特控制图的建立首先是其预备数据的取得是在重复性条件下，对选择好的核查标准作n次独立重复测量，该n次测量结果称为一个子组。在计量检定规程或技术规范规定的测量条件下，按一定的时间间隔重复上面的测量过程，共测量m个子组。相邻两个子组的测量应相隔足够的时间。

然后，计算统计控制量：当采用平均值-标准偏差控制图(x-s图)时，应计算的统计控制量为：每个子组的平均值x，每个子组的标准偏差s，各子组平均值的平均值和各子组标准偏差的平均值s。

当采用平均值-极差控制图(x-R图)时，应计算的统计控制量为：每个子组的平均值x，每个子组的极差R，各子组平均值的平均值和各子组极差的平均值R。

再计算控制界限：计算每个控制图的中心线(CL)，控制上限(UCL)和控制下限(LCL)。对于不同的控制图，其控制界限的计算公式是不同的。

其中对于平均值-标准偏差控制图(x-s图)计算过程如下：

平均值控制图，x图。其中心线CL、控制上限UCL和控制下限LCL分别为：

CL=x‾‾]]>

UCL=x‾‾+A3s‾]]>

LCL=x‾‾-A3s‾]]>

而对于平均值-极差控制图(x-R图)计算过程如下：

平均值控制图，x图。其中心线CL、控制上限UCL和控制下限LCL分别为：

CL=x‾‾]]>