[发明专利]对数字成像镜头进行多参数测试的装置以及方法

说明书

技术领域

本申请涉及数字成像镜头的测试，尤其涉及对数字成像镜头进行多参数测试的装置以及方法。

背景技术

随着半导体和计算机技术的飞速发展，以CCD(电荷耦合元件，Charge-coupled Device)、CMOS(互补金属氧化物半导体，Complementary Metal Oxide Semiconductor)彩色电子成像器件为核心的数字成像系统，整合了微电子、计算机、精密机械，光学等多学科技术，将数字成像和图像处理系统有机地结合起来，集观察、记录、数据采集和处理于一体，并已广泛应用于工业检测、医疗检查诊断和安全监控等与人们生活息息相关的诸多领域。

上述数字成像系统的数字成像镜头，已不是一个简单的单一成像部件，而由彩色电子成像器件、光学镜头组件、专用控制模块和光源等组成，其主要功能是捕获观察目标影像、控制调节影像参数、输出视频信号、提供辅助信息等。数字成像镜头最终摄取的观察目标的影像品质，取决于彩色电子成像器件、光学镜头组件和光源等综合因素。在生产制造过程中，只有对整体反映上述因素影响的多个参数进行测试，才能更好地确定数字成像镜头的品质优劣，从而保证数字成像镜头的质量。

发明内容

一般情况下，需要对数字成像镜头的分辨率、色彩、几何失真以及数字成像镜头中的光源的色温、照度等多个参数进行测量。目前一般采用的镜头测试装置多为单一参数测试装置，测试数字成像镜头的不同参数时必须更换不同的测试装置。本发明的发明人意识到，使用单一参数测试装置来测试数字成像镜头的多个参数，测试效率较低，测试成本较高，并且很难满足大规模的数字成像镜头的生产的需求。

此外，本发明的发明人还意识到，如果没有将测试卡在数字成像镜头测试装置中正确的摆放，例如，测试卡没有正对着数字成像镜头，就易导致数字成像镜头所获取的测试卡的图像和测试卡的真实图像之间有较大的差距，从而无法正确的评估数字成像镜头的质量；又如，当测试卡的表面反光时，如果测试卡所反射的光被垂直的反射回数字成像镜头时，所采集的图像会有反光阴影(即光斑或者光源阴影)，从而影响对数字成像镜头质量的正确评估。

根据对现有技术以及对数字成像镜头测试中的问题的理解，能够仅使用一个测试装置就可以对数字成像进行多参数测试将是非常有益的。此外，能够通过测试装置方便的调整测试卡与数字成像镜头之间的相对位置也是非常重要的。

为了更好的解决上述一个或者多个考量，根据本发明一个方面的一个实施例，提供了一种用于对一个数字成像镜头进行多参数测试的装置。该装置包括：

一个壳体，其形成一个遮光空间；

一个匹配器，其位于所述壳体的一端，并用于密闭连接所述数字成像镜头；

一个支撑件，其以可拆卸的方式被安装于所述壳体，并用于将一个测试卡固定于所述壳体中，从而使得该测试卡与所述数字成像镜头相对设置；以及

一个调节器，其用于调节所述支撑件的位置，从而调节所述测试卡与所述数字成像镜头之间的相对位置。

壳体所形成的遮光空间可以避免来自外界的光线影响数字成像镜头测试的准确度。匹配器使得待测的数字成像镜头能够与测试装置紧密的相连接，从而避免来自对数字成像镜头进行多参数测试的装置外的光对测试结果的负面影响。由于支撑件以可拆卸的方式被安装于壳体，则既可以通过更换固定在支撑件上的测试卡来进行多参数测试，也可以通过更换固定有不同测试卡的支撑件来进行多参数测试。这样，就可以仅通过拆卸支撑件的操作来完成对数字成像镜头的多个参数的测试，而不必改变对数字成像镜头进行多参数测试的装置的主体，从而有效的提高测试数字成像镜头的效率。此外，还可以通过调节器来调节支撑件的位置，从而调节测试卡与数字成像镜头之间的相对位置，避免由于测试卡的摆放错误而造成的不准确的测试结果，从而提高数字成像镜头测试的准确度。

根据本发明另一个方面的一个实施例，提供了一种对一个数字成像镜头进行多参数测试的方法。该方法包括：

提供一个用于对所述数字成像镜头进行多参数测试的装置，该装置包括一个壳体，其形成一个遮光空间；一个匹配器，其位于所述壳体的一端，并用于密闭连接所述数字成像镜头；一个支撑件，其以可拆卸的方式被安装于所述壳体，并用于将一个测试卡固定于所述壳体中，从而使得该测试卡与所述数字成像镜头相对设置；以及一个调节器，其用于调节所述支撑件的位置从而调节所述测试卡与所述数字成像镜头之间的相对位置；

根据一个待测试的参数，从多个测试卡中选择一个测试卡；

通过所述支撑件将所述被选择的测试卡固定于所述壳体中；

调节所述被选择的测试卡与所述数字成像镜头之间的相对位置；