[发明专利]半导体发光器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200910258504.2 申请日: 2009-12-11
公开(公告)号: CN101752488A 公开(公告)日: 2010-06-23
发明(设计)人: 友田胜宽 申请(专利权)人: 索尼株式会社
主分类号: H01L33/38 分类号: H01L33/38
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 马景辉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 发光 器件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体发光器件,包括:

(A)发光部分,通过依次层叠具有第一导电类型的第一化合物 半导体层、有源层、和具有不同于所述第一导电类型的第二导电类型 的第二化合物半导体层而获得;

(B)第一电极,电连接到所述第一化合物半导体层;

(C)透明导电材料层,形成在所述第二化合物半导体层上;

(D)绝缘层,包括透明绝缘材料并且具有开口,所述绝缘层形 成在所述透明导电材料层上;和

(E)第二电极,其反射来自于所述发光部分的光,所述第二电 极以连续方式形成在暴露于所述开口的底部的所述透明导电材料层 上和所述绝缘层上,

其中,假定构成所述发光部分的有源层的面积为S1,所述透明 导电材料层的面积为S2,所述绝缘层的面积为S3,以及所述第二电极 的面积为S4,则满足S1≤S2<S3且S2<S4

2.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中所述透明导电 材料层透射从所述发光部分发出的光的90%或更多。

3.根据权利要求2所述的半导体发光器件,其中所述透明导电 材料层包括Au、Ni、Pt、ITO、IZO或RuO2

4.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中所述绝缘层包 括氧化硅、氮化硅、氮氧化硅、氧化钽、氧化锆、氧化铝、氮化铝、 氧化钛、氧化镁、氧化铬、氧化钒、氮化钽或电介质多层膜。

5.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中所述第二电极 包括银、银合金、铝或铝合金。

6.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中来自于所述有 源层的光通过所述第一化合物半导体层发射到外面。

7.一种用于制造半导体发光器件的方法,包括步骤:

(a)在半导体发光器件制造衬底的主要表面上依次形成具有第 一导电类型的第一化合物半导体层、有源层、和具有不同于第一导电 类型的第二导电类型的第二化合物半导体层;

(b)在所述第二化合物半导体层上形成透明导电材料层;

(c)在所述透明导电材料层上形成绝缘层,该绝缘层包括透明 绝缘材料并且具有开口;

(d)以连续方式在暴露于所述开口的底部的所述透明导电材料 层上以及在所述绝缘层上形成反射来自于发光部分的光的第二电极;

(e)将所述第二电极接合到支撑衬底,并且除去所述半导体发 光器件制造衬底;以及

(f)对所述第一化合物半导体层、所述有源层、所述第二化合 物半导体层以及所述透明导电材料层构图,以获得所述发光部分,然 后对所述绝缘层和所述第二电极构图,在所述发光部分中所述第一化 合物半导体层、所述有源层和所述第二化合物半导体层被依次层叠,

其中,假定构成所述发光部分的有源层的面积为S1,所述透明 导电材料层的面积为S2,所述绝缘层的面积为S3,以及所述第二电极 的面积为S4,则满足S1≤S2<S3且S2<S4

8.根据权利要求7所述的用于制造半导体发光器件的方法,其 中所述透明导电材料层透射从所述发光部分发出的光的90%或更多。

9.根据权利要求8所述的用于制造半导体发光器件的方法,其 中所述透明导电材料层包括Au、Ni、Pt、ITO、IZO或RuO2

10.根据权利要求7所述的用于制造半导体发光器件的方法,其 中所述绝缘层包括氧化硅、氮化硅、氮氧化硅、氧化钽、氧化锆、氧 化铝、氮化铝、氧化钛、氧化镁、氧化铬、氧化钒、氮化钽或电介质 多层膜。

11.根据权利要求7所述的用于制造半导体发光器件的方法,其 中所述第二电极包括银、银合金、铝或铝合金。

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