[发明专利]半导体器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200910258845.X 申请日: 2009-12-25
公开(公告)号: CN101771068A 公开(公告)日: 2010-07-07
发明(设计)人: 板东晃司;三角和幸;秋山龙彦;和泉直生;山崎晓 申请(专利权)人: 株式会社瑞萨科技
主分类号: H01L27/22 分类号: H01L27/22;H01L23/552;H01L21/50;G11C11/02;G11C11/16
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华;郑菊
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种制造半导体器件的方法,包括以下步骤:

(a)制备包括管芯焊盘的引线框架以及设置于所述管芯焊盘周 围的多个引线;

(b)制备半导体芯片,所述半导体芯片具有主表面和与所述主 表面相反的后表面,所述半导体芯片在所述主表面侧上包括多个磁 存储器元件和多个键合焊盘;

(c)在所述管芯焊盘之上装配所述半导体芯片;

(d)在所述半导体芯片的主表面之上设置由坡莫合金形成的磁 屏蔽材料,使得其中形成所述磁存储器元件的区域由所述磁屏蔽材 料覆盖,所述坡莫合金是镍和铁的合金;

(e)用多个键合接线将所述引线电耦合到所述键合焊盘;并且

(f)用树脂体密封相应引线的一部分、所述键合接线、所述管 芯焊盘、所述半导体芯片和所述磁屏蔽材料;

其中所述磁屏蔽材料是通过有选择的蚀刻对板状磁屏蔽材料进 行构图来形成的磁屏蔽材料,并且

其中所述管芯焊盘的面积比所述半导体芯片的面积更小。

2.一种制造半导体器件的方法,包括以下步骤:

(a)制备包括管芯焊盘的引线框架以及设置于所述管芯焊盘周 围的多个引线;

(b)制备半导体芯片,所述半导体芯片具有主表面和与所述主 表面相反的后表面,所述半导体芯片在所述主表面侧上包括多个磁 存储器元件和多个键合焊盘;

(c)在所述管芯焊盘之上装配所述半导体芯片;

(d)在所述半导体芯片的主表面之上设置由坡莫合金形成的磁 屏蔽材料,使得其中形成所述磁存储器元件的区域由所述磁屏蔽材 料覆盖,所述坡莫合金是镍和铁的合金;

(e)用多个键合接线将所述引线电耦合到所述键合焊盘;并且

(f)用树脂体密封相应引线的一部分、所述键合接线、所述管 芯焊盘、所述半导体芯片和所述磁屏蔽材料,

其中所述磁屏蔽材料是通过有选择的蚀刻对板状磁屏蔽材料进 行构图来形成的磁屏蔽材料;以及

其中所述蚀刻是使用蚀刻剂的湿法蚀刻。

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