[发明专利]一种测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法有效
申请号: | 200910259325.0 | 申请日: | 2009-12-17 |
公开(公告)号: | CN101718574A | 公开(公告)日: | 2010-06-02 |
发明(设计)人: | 冯焱;李得天;赵澜;张涤新;盛学民;李正海 | 申请(专利权)人: | 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所 |
主分类号: | G01F25/00 | 分类号: | G01F25/00 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 张利萍 |
地址: | 730000*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 恒压式 正压 漏孔 校准 装置 变容室 容积 方法 | ||
技术领域
本发明的一种测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法,特别涉及 一种内置法测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法,属于真空计量技 术领域。
背景技术
在文献“德国联邦物理技术研究院(PTB)气体微流量计量评介,《真空科 学与技术》,2003年第4期,第289页~294页”中,介绍了一种PTB恒压式气 体流量计变容室波纹管容积的变化测量方法。该方法为称重测量法,方法如下: 对变容室组件抽真空后充入经4次蒸馏和去气的水,用一个细管将波纹管组件 与一个置于灵敏天平上的容器相连接,当波纹管被压缩时,水被挤入容器,在 修正水的浮力和蒸发量后,通过测量天平上的水的质量以及密度得到变容室容 积变化量。
这种方法的不足之处在于测量过程时,不能在原位置校准,需要将变容室 从真空装置拆下,如此以来,真空系统暴露于大气,不利于真空系统的维持。 其次,在测量时需要使用水介质,需要对波纹管进行工艺处理才能重新使用, 导致测量值与实际使用值可能发生变化;再次,测量过程复杂,测量时间周期 长,PTB在17年间总记仅进行了3次测量。
发明内容
本发明的目的是为了克服已有技术的不足,提出一种测量恒压式正压漏孔 校准装置变容室容积的方法。本发明利用气体等温膨胀原理,首先将一个容积 为变容室容积1.5倍的外接容器与变容室相连,充入一定压力后膨胀到定容室, 可以得到一个压力与容积等式;然后将一个圆柱体不锈钢棒,其容积已知,与 定容室容积相当,放置在外接容器中,再充气膨胀后测量压力,得到第二个压 力和容积的等式,两式联立既解出定容室容积值。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的。
本发明的一种测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法,其具体实 施步骤如下:
1)将外接容器与变容室通过真空阀门相连,另一段密封,外接容器的容积 v1为变容室容积v的1.5倍;
2)对外接容器与变容室抽真空至本底,真空度小于0.01Pa,向变容室中通 入压力为p1的气体,p1的值通过压力计测量;而后气体膨胀到外接容器,平衡 后压力为p2,p2的值通过压力计测量;
3)将外接容器的另一端打开,装入已知容积为v2的圆柱体,然后密封并对 变容室及外接容器抽真空至本底,真空度小于0.01Pa;
4)向变容室中通入压力为p3的气体,p3的值通过压力计测量;而后气体膨 胀到外接容器,平衡后压力为p4,p4的值通过压力计测量;则变容室容积为
至此,就完成了对内置法测量恒压式正压漏孔校准装置变容室容积的方法。
与已有技术相比,本发明的有益效果如下:
(1)本发明方法采用等温膨胀技术,在工作环境下,将变容室容积的测量 标准转化为可以精确测量的圆柱体容积,提高测量精度;
(2)测量过程中避免了使用水介质传递测量;
(3)测量过程简单易行,通过采用原位测量,避免了变容室的拆卸,有利 于真空系统的保持和维护;
(4)测量时间周期短,易于重复测量变容室容积,有利于测量精度的提高。
附图说明
图1为本发明的流程图。
具体实施方式
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