[发明专利]一种EMI滤波器共模/差模滤波特性及其耦合度特性测试方法有效

专利信息
申请号: 200910264400.2 申请日: 2009-12-18
公开(公告)号: CN101713804A 公开(公告)日: 2010-05-26
发明(设计)人: 赵阳;王恩荣;陆婋泉;褚家美;颜伟;董颖华;李世锦;闻枫 申请(专利权)人: 南京师范大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 程化铭
地址: 210046 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 emi 滤波器 滤波 特性 及其 耦合度 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种EMI滤波器共模/差模滤波特性及其耦合度特性测试方法,其测量步 骤如下:

A、使用矢量网络分析仪测量选定测量频率范围内EMI滤波器的S参数和同时记录幅频特性和相频特性;

B、用下式计算EMI滤波器的共模滤波特性、差模滤波特性、共模耦合度和差 模耦合度的幅频特性和相频特性:

EMI滤波器的共模滤波特性的幅频特性和相频特性

F·CM=V·OCMV·ICM=12V·3+V·4V·ICM]]>

=12Z·0(b·3+b·4)V·ICM]]>

=12(a·1(S·31+S·41)a·1+b·1+a·2(S·32+S·42)a·2+b·2)]]>

=12(S·31+S·411+S·11+S·32+S·421+S·22);]]>

EMI滤波器的差模滤波特性的幅频特性和相频特性

F·DM=V·ODMV·IDM=12V·3-V·4V·IDM]]>

=Z·0(b·3-b·4)V·IDM]]>

=12(a·1(S·31-S·41)a·1+b·1-a·2(S·32-S·42)a·2+b·2)]]>

=12(S·31-S·411+S·11-S·32-S·421+S·22);]]>

EMI滤波器的共模耦合度的幅频特性和相频特性

C·CM=V·ODMV·ICM=V·3-V·4V·ICM]]>

=Z·0(b·3-b·4)V·ICM]]>

=a·1(S·31-S·41)a·1+b·1+a·2(S·32-S·42)a·2+b·2]]>

=S·31-S·411+S·11+S·32-S·421+S·22;]]>

EMI滤波器的差模耦合度的幅频特性和相频特性

C·DM=V·OCMC·IDM=12V·3+V·4V·IDM]]>

=12Z·0(b·3+b·4)V·IDM]]>

=14(a·1(S·31+S·41)a·1+b·1-a·2(S·32+S·42)a·2+b·2)]]>

=14(S·31+S·411+S·11-S·32+S·421+S·22).]]>

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