[发明专利]电性连接瑕疵侦测装置有效
申请号: | 200910265753.4 | 申请日: | 2009-12-31 |
公开(公告)号: | CN102116817A | 公开(公告)日: | 2011-07-06 |
发明(设计)人: | 蔡苏威;叶尚苍 | 申请(专利权)人: | 德律科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国台湾台北*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 连接 瑕疵 侦测 装置 | ||
1.一种电性连接瑕疵侦测装置,其特征在于其用以侦测一待测元件的一待测接脚与一电路板的一信号线间的电性连接是否正常,该电性连接瑕疵侦测装置包含:
一信号供应器,藉由该信号线提供一测试信号至该待测接脚;
一侦测模块;以及
一电极板,电性连接于该侦测模块,包含:
一侦测面,用以接触该待测元件相对该待测接脚的一表面,而与该待测接脚间隔一距离,以在该信号供应器提供该测试信号至该待测接脚,且该待测接脚与该信号线连接正常时,使该侦测模块侦测到一感应电容大于一临界值;及
至少一排贯孔,是沿该电极板的四边设置,以贯穿该电极板,其中该贯孔是与一接地电位相连接,以在该信号供应器与该电极板位于该电路板的同一侧时屏蔽该信号供应器与该电极板间的一电容效应。
2.根据权利要求1所述的电性连接瑕疵侦测装置,其特征在于其中所述的信号供应器包含一探针以及一信号供应源,以使该探针接触该信号线,进一步藉由该信号供应源提供该测试信号至该待测接脚。
3.根据权利要求1所述的电性连接瑕疵侦测装置,其特征在于当该信号供应器提供该测试信号至该待测接脚,且该待测接脚与该信号线连接不正常时,该侦测模块侦测到的该感应电容是小于该临界值。
4.根据权利要求1所述的电性连接瑕疵侦测装置,其特征在于其中所述的侦测模块更用以侦测根据该感应电容产生的一电流。
5.根据权利要求1所述的电性连接瑕疵侦测装置,其特征在于其中所述的侦测模块更用以侦测根据该感应电容产生的一电压。
6.根据权利要求1所述的电性连接瑕疵侦测装置,其特征在于其中所述的电极板包含两排贯孔,该两排贯孔是彼此交错设置。
7.一种电性连接瑕疵侦测装置,其特征在于其用以侦测一待测元件的一待测接脚与一电路板的一信号线间的电性连接是否正常,该电性连接瑕疵侦测装置包含:
一信号供应器,藉由该信号线提供一测试信号至该待测接脚;
一侦测模块;以及
一电极板,电性连接于该侦测模块,包含:
一侦测面,用以接触该待测元件相对该待测接脚的一表面,而与该待测接脚间隔一距离,以在该信号供应器提供该测试信号至该待测接脚,且该待测接脚与该信号线连接正常时,使该侦测模块侦测到一感应电容大于一临界值;及
一电磁屏蔽物,是包覆该电极板的四边,并与一接地电位相连接,以在该信号供应器与该电极板位于该电路板的同一侧时屏蔽该信号供应器与该电极板间的一电容效应。
8.根据权利要求7所述的电性连接瑕疵侦测装置,其特征在于其中所述的信号供应器包含一探针以及一信号供应源,以使该探针接触该信号线,进一步藉由该信号供应源提供该测试信号至该待测接脚。
9.根据权利要求7所述的电性连接瑕疵侦测装置,其特征在于当该信号供应器提供该测试信号至该待测接脚,且该待测接脚与该信号线连接不正常时,该侦测模块侦测到的该感应电容是小于该临界值。
10.根据权利要求7所述的电性连接瑕疵侦测装置,其特征在于其中所述的电磁屏蔽物为一金属。
11.根据权利要求10所述的电性连接瑕疵侦测装置,其特征在于其中所述的金属为锡、铜或金,以藉由一喷锡工艺或一溅镀工艺形成于该电极板的四边。
12.根据权利要求7所述的电性连接瑕疵侦测装置,其特征在于其中所述的电磁屏蔽物为一导电布或一导电胶带。
13.根据权利要求7所述的电性连接瑕疵侦测装置,其特征在于其中所述的侦测模块更用以侦测根据该感应电容产生的一电流。
14.根据权利要求7所述的电性连接瑕疵侦测装置,其特征在于其中所述的侦测模块更用以侦测根据该感应电容产生的一电压。
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