[发明专利]测试接口卡及测试方法

权利要求书

1.一种测试接口卡，应用于待测机板及信号转换接口卡之间，该待测机板具有第一规格接口控制器、第二规格接口控制器及储存模块，该测试接口卡包含：

第一规格总线，耦接于该第一规格接口控制器与该信号转换接口卡之间，该第一规格总线将该第一规格接口控制器所发出的第一测试信号传送至该信号转换接口卡；

第二规格总线，耦接于该信号转换接口卡与该储存模块之间，该第二规格总线将该信号转换接口卡的输出信号传回至该储存模块；及

第三规格总线，其中一端耦接于该第二规格接口控制器的一输出端且其中另一端耦接于该第二规格接口控制器的一输入端，使该第三规格总线与该第二规格接口控制器成一闭回路，该第三规格总线的一端接收该第二规格接口控制器所发出的第二测试信号，并将该第二测试信号从该第三规格总线的另一端回传至该第二规格接口控制器。

2.根据权利要求1所述的测试接口卡，其中，该信号转换接口卡为串行附接小型计算机系统接口SAS卡，且该第二规格总线为SAS总线，该信号转换接口卡将该第一测试信号转换为SAS规格后传回至该储存模块。

3.根据权利要求2所述的测试接口卡，其中，该第一规格总线为PCI-E总线及SATA总线其中之一，该第三规格总线为PCI-E总线及SATA总线其中另一，且该第一规格接口控制器为该PCI-E控制器及SATA控制器其中之一，该第二规格接口控制器为该PCI-E控制器及SATA控制器其中另一。

4.一种测试方法，应用于待测机板，该待测机板具有第一规格接口控制器、第二规格接口控制器、储存模块、第一规格总线、第二规格总线及第三规格总线，该测试方法包含以下步骤：

(A)将该第一规格总线耦接于该第一规格接口控制器与一信号转换接口卡之间，该第二规格总线耦接于该信号转换接口卡与该储存模块之间，该第三规格总线的一端耦接于该第二规格接口控制器的一输出端且另一端耦接于该第二规格接口控制器的一输入端，使该第三规格总线与该第二规格接口控制器成一闭回路；

(B)令该第一规格接口控制器通过该第一规格总线发送第一测试信号至该信号转换接口卡，使得该信号转换接口卡将该第一测试信号进行规格转换后通过该第二规格总线传送至该储存模块；及

(C)令该第二规格接口控制器通过该第三规格总线的一端发送第二测试信号，使得该第二测试信号经过该第三规格总线而从该第三规格总线的另一端回传至该第二规格接口控制器。

5.根据权利要求4所述的测试方法，其中，该信号转换接口卡为串行附接小型计算机系统接口SAS卡，且该第二规格总线为SAS总线，该信号转换接口卡将该第一测试信号转换为SAS规格后传回至该储存模块。

6.根据权利要求5所述的测试方法，其中，该第一规格总线为PCI-E总线及SATA总线其中之一，该第三规格总线为PCI-E总线及SATA总线其中另一，且该第一规格接口控制器为该PCI-E控制器及SATA控制器其中之一，该第二规格接口控制器为该PCI-E控制器及SATA控制器其中另一。

7.一种测试接口卡，应用于待测机板，该待测机板具有第一规格接口控制器、第二规格接口控制器及储存模块，该测试接口卡包含：

信号转换模块，用以将所接收到的信号进行格式转换后输出；

第一规格总线，耦接于该第一规格接口控制器与该信号转换模块之间，该第一规格总线将该测试模块所发出的第一测试信号传送至该信号转换模块；

第二规格总线，耦接于该信号转换模块与该储存模块之间，该第二规格总线将该信号转换模块的输出信号传回至该储存模块；及

第三规格总线，其中一端耦接于该第二规格接口控制器的一输出端且其中另一端耦接于该第二规格接口控制器的一输入端，使该第三规格总线与该第二规格接口控制器成一闭回路，该第三规格总线的一端接收该第二规格接口控制器所发出的第二测试信号，并将该第二测试信号从该第三规格总线的另一端回传至该第二规格接口控制器。

8.根据权利要求7所述的测试接口卡，其中，该第二规格总线为SAS总线，该信号转换模块将该第一测试信号转换为SAS规格后传回至该储存模块。

9.根据权利要求8所述的测试接口卡，其中，该第一规格总线为PCI-E总线及SATA总线其中之一，该第三规格总线为PCI-E总线及SATA总线其中另一，且该第一规格接口控制器为该PCI-E控制器及SATA控制器其中之一，该第二规格接口控制器为该PCI-E控制器及SATA控制器其中另一。