[发明专利]狭缝振动发生器有效

专利信息
申请号: 200910266173.7 申请日: 2009-12-31
公开(公告)号: CN101718905A 公开(公告)日: 2010-06-02
发明(设计)人: 束小梅;徐晓波;左勇;唐志锋 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
主分类号: G02B26/06 分类号: G02B26/06
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 杜永保
地址: 10009*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 狭缝 振动 发生器
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种狭缝振动发生器,特别是关于一种用于振动光学狭缝的振动发生器。

背景技术

光学狭缝为用于光束透过狭缝,适用于多种光学器件中,主要有超薄型透射式光学狭 缝。超薄型透射式光学狭缝以光学研磨抛光的石英材料为基板,通过在基板的两侧镀带狭 缝的膜层来实现光学狭缝,采用照相复制技术制作狭缝。在实际使用中,特别是光学调制 中,光学狭缝需要振动,为此需要专门的振动器进行驱动。

现有技术振动器主要有晶体振荡器和电磁驱动器,其中,晶体振荡器适用于电子设备 例如通讯设备中,一般地使用晶体振荡器构成本地振荡器。常用的振荡器属于石英晶体振 荡器,输出频率量。而电磁驱动器主要用在机电领域,电磁驱动也可以实现致动功能,但 是要达到比较高的精度,其结构复杂,设计和制造成本都非常大;而且电磁式致动的频率、 致动的稳定性和致动中位移的准确性都受到限制。

然而由于光学狭缝的特殊性,其要求精度较高,难以实现光能和机械位移量之间低损 耗转换,特别是在微弱光能或微弱机械位移量之间转换时,急需高转换性能的器件。

发明内容

本发明目的是:本发明提出了一种能实现光能和机械位移量之间有效转换的狭缝振动 发生器。

本发明技术方案是:一种狭缝振动发生器,其包括至少一组双晶体双极板、固定板、 通光孔基板,其中,双晶体双极板中间设有双晶体中间加层,所述双晶体中间加层一端与 固定板相连,另一端与通光孔基板连接固定,且双晶体双极板和双晶体中间加层分别与相 位相反的驱动电路相连,所述通光孔基板上设有狭缝通光孔。

所述双晶体为双晶体压电陶瓷片。

所述通光孔基板与双晶体中间加层之间为胶合连接。

所述通光孔基板为透光体,且在狭缝通光孔之外的区域设有反射膜。

所述通光孔基板是玻璃或透明压电陶瓷。

所述狭缝通光孔是对称的矩形通光孔。

本发明的有益效果是:本发明狭缝振动发生器通过双晶体压电陶瓷的振动带动与其相 连的通光孔基板的摆动,进一步使狭缝通光孔发生振动,从而影响通过狭缝的光通量,因 此可以作为光电调制器,具有较高的机械能和光能的转换效率,同时还具有体积小、重量 轻、结构简单、致动频率范围宽而且致动幅度稳定的优点。

附图说明

图1是本发明狭缝振动发生器一较佳实施方式的结构示意图;

图2是图1的俯视图;

图3是本发明狭缝振动发生器一较佳实施方式的振动示意图;

图4是本发明狭缝振动发生器的安装示意图;

101、102为电极引线连接端;103为通光孔基板;104为固定板;105、106移动位置、 107胶合层,108为通光孔狭缝,301为致动器;302为光电倍增管;303为光电管连接座。

具体实施方式

下面通过具体实施方式对本发明作进一步说明:

在图1中,101、102为电极引线连接端;103为通光孔基板;104为固定板。每组的 双晶体单独相连,各组分别按照图中的标号接通驱动器的电源;101接通同相端正弦驱动, 102接反相端;两组极板产生同方向的位移。104固定板和103通光孔基板采用绝缘材料。 103通光孔基板为K9玻璃,通光孔基板两面都抛光后,通过光学刻划技术直接刻制狭缝; 非狭缝镀铬,除狭缝外镀反射膜,保证不透光。

请参阅图1,其是本发明狭缝振动发生器一较佳实施方式的结构示意图。本实施方式 中,所述狭缝振动发生器电极引线连接端101、102,通光孔基板103,固定板104和两组 双晶体压电陶瓷双极板以及双晶体压电陶瓷中间加层。其中,所述双晶体压电陶瓷中间加 层为致动器,其设置在每组双晶体压电陶瓷双极板中间,且一端固定在固定板104上,另 一端固定在通光孔基板103上。所述101是正弦输出端子,其与一组双晶体压电陶瓷双极 板相接,同时与另一组双晶体压电陶瓷中间加层相连通,因此接通同相端正弦驱动。所述 102是正弦输出的地端子,其与第一组双晶体压电陶瓷中间加层相接,同时与另一组双晶 体压电陶瓷双极板相连,因此接通反相端正弦驱动。另外,所述通光孔基板103和固定板 104均为绝缘材料,而双晶体压电陶瓷中间加层为导电材料,其在两侧双晶体压电陶瓷双 极板作用下,会发生振动。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所,未经中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910266173.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top