[发明专利]一种用于工业零件的同心圆检测方法

权利要求书

1.一种用于工业零件的同心圆检测方法，对拍摄工业零件上同心圆所得原始图像进行处理实现检测，所述同心圆包括外圆和内圆，其特征在于：包括以下处理步骤，

步骤1，输入同心圆位置的初步标定参数，包括内圆初始参数、外圆初始参数和矩形区域参数，

所述内圆初始参数用于标出内圆在原始图像上的区域，包括内圆初始圆心坐标和内圆初始半径；

所述外圆初始参数用于标出外圆在原始图像上的区域，包括外圆初始圆心坐标和外圆初始半径；

所述矩形区域参数用于标出同心圆在原始图像上所处的矩形区域，包括矩形区域的左上角坐标以及矩形的高度和宽度；

步骤2，根据初步标定参数进行检测，包括以下步骤，

步骤2.1，从原始图像中根据矩形区域参数提取矩形图像，根据矩形图像中各像素点的灰度值求取矩形图像中各像素点的梯度值，得到一幅梯度图像；

步骤2.1中所述求取矩形图像中各像素点的梯度值，具体计算方式如下，矩形图像中像素点(i，j)的灰度值记为q_i，j，像素点(i，j)的梯度值记为T_i，j，

步骤2.2，根据矩形图像的灰度值、梯度图像以及内圆初始参数找内圆的可能像 素点，根据矩形图像的灰度值、梯度图像以及外圆初始参数找外圆的可能像素点；

步骤2.2中所述根据矩形图像的灰度值、梯度图像以及内圆初始参数找内圆的可能像素点，根据矩形图像的灰度值、梯度图像以及外圆初始参数找外圆的可能像素点，具体实现方式如下，

预设梯度阈值、灰度阈值和容差，当某个像素点(i，j)满足梯度值T_i，j大于梯度阈值、灰度值q_i，j大于灰度阈值，且像素点(i，j)到内圆初始圆心坐标的距离与内圆初始半径之差的绝对值小于容差时，判断像素点(i，j)为内圆的可能像素点；当某个像素点(i，j)满足梯度值T_i，j大于梯度阈值、灰度值q_i，j大于灰度阈值，且像素点(i，j)到外圆初始圆心坐标的距离与外圆初始半径之差的绝对值小于容差时，判断像素点(i，j)为外圆的可能像素点；

步骤2.3，利用内圆的可能像素点的坐标拟合内圆，得到内圆拟合圆心坐标和内圆拟合半径；利用外圆的可能像素点的坐标拟合外圆，得到外圆拟合圆心坐标和外圆拟合半径；

步骤2.4，求取内圆拟合圆心坐标和外圆拟合圆心坐标之间的距离，根据该距离判断是否满足同心条件。

2.根据权利要求1所述的同心圆检测方法，其特征在于：进行步骤2.3后，将所得内圆拟合圆心坐标和内圆拟合半径作为新的内圆初始参数，将外圆拟合圆心坐标和外圆拟合半径作为新的外圆初始参数，返回步骤2.2重新寻找可能像素点进行下一次拟合；直到本次所求得内圆拟合圆心坐标和内圆拟合半径、外圆拟合圆心坐标和外圆拟合半径与上一次所求的结果相差小于预设阈值时，进入步骤2.4。 

3.根据权利要求2所述的同心圆检测方法，其特征在于：当返回步骤2.2重新寻找可能像素点时，减小容差。