[发明专利]提高阵列光电检测器探测灵敏度的阿达玛变换调制方法有效
申请号: | 200910272754.1 | 申请日: | 2009-11-13 |
公开(公告)号: | CN101718585A | 公开(公告)日: | 2010-06-02 |
发明(设计)人: | 徐昊;唐宏武 | 申请(专利权)人: | 武汉大学 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28 |
代理公司: | 武汉天力专利事务所 42208 | 代理人: | 程祥;冯卫平 |
地址: | 430072*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 提高 阵列 光电 检测器 探测 灵敏度 阿达玛 变换 调制 方法 | ||
1.提高阵列光电检测器探测灵敏度的阿达玛变换调制方法,使用阵列光电探测 器作为检测器,通过检测器获取光信号,模拟阿达玛变换编码部件的编码过 程,通过阿达玛变换编码算法和解码算法处理光电检测器得到的光信号,从 而提高探测灵敏度;所述阿达玛变换的编码算法和解码算法为:以阵列光电 探测器上的n个像敏单元作为工作区域进行光电转换,得到原始的光信号数 列Xi,其中i=1,2,……n;将Xi与阿达玛变换编码模板序列Si,j对应相乘, 再将这个数组求和得到yj,即式中yj是用第j个模板编码 序列调制产生的信号的总和,其中j=1,2,……n;利用Y=(y1,y2……yn) 通过阿达玛解码算法解出X,X即为通过阿达玛变换编码算法和解码算法处 理后的光信号。
2.根据权利要求1所述的调制方法,其特征是:阵列光电探测器为一个线阵或 者面阵的光电检测器。
3.根据权利要求1所述的调制方法,其特征是:阵列光电探测器的像敏单元可 以划分为一个或多个工作区域,未划分进工作区域的像敏单元被舍弃;对于 划分为多个工作区域,每个工作区域均按照所述的阿达玛变换的编码算法和 解码算法进行处理。
4.实现权利要求1所述调制方法的设备,包括作为检测器的阵列光电探测器、 用于实现阿达玛变换编码算法和解码算法处理光电检测器得到的光信号的 装置。
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