[发明专利]一种二维轮廓形状的测量方法及测量装置

权利要求书

1.一种二维轮廓形状的测量装置，其特征在于包括：

测量模块，用于与被测物体直接接触，得到各测点的弧长及变形量；

处理模块，用于处理弧长及变形量，重构被测物体的形状；

采集模块，用于测量模块与处理模块之间的接口，采集测量的数据；所述的测量模块是由第一传感组件、第二传感器、第一支架、第二支架、底座组成，所述第一支架、第二支架分别安装在所述底座两端，所述第一传感器组件安装在所述第二支架下端，所述第二传感器安装所述第一支架、第二支架之间的底座上，所述第一支架、第二支架、第二传感器均在同一水平面上；所述第一传感器组件包括角度传感器与滚轮，其中滚轮与传感器的转轴过盈连接，在测量时，所述滚轮与被测物体轮廓相接触，并沿被测物体轮廓上作无滑动滚动带动角度传感器旋转，所述角度传感器不断采样得到轮廓上各点的累积弧长值；所述第二传感器为位移传感器，用于测量各点的累积弧长对应的近似曲率。

2.一种二维轮廓形状的测量装置，其特征在于包括：

测量模块，用于与被测物体直接接触，得到各测点的弧长及变形量；处理模块，用于处理弧长及变形量，重构被测物体的形状；采集模块，用于测量模块与处理模块之间的接口，采集测量的数据；所述的测量模块是由第一传感组件、第二传感器、第一支架、第二支架、底座组成，所述第一支架、第二支架分别安装在所述底座两端，所述第二传感器安装所述第一支架、第二支架之间的底座上，所述第一传感器组件安装在所述第二传感器下端，所述第一支架、第二支架、第二传感器均在同一水平面上；所述第一传感器组件包括角度传感器与滚轮，其中滚轮与传感器的转轴过盈连接，在测量时，所述滚轮与被测物体轮廓相接触，并沿被测物体轮廓上作无滑动滚动带动角度传感器旋转，所述角度传感器不断采样得到轮廓上各点的累积弧长值；所述第二传感器为位移传感器，用于测量各点的累积弧长对应的近似曲率。

3.一种二维轮廓形状的测量装置，其特征在于包括：

测量模块，用于与被测物体直接接触，得到各测点的弧长及变形量；处理模块，用于处理弧长及变形量，重构被测物体的形状；采集模块，用于测量模块与处理模块之间的接口，采集测量的数据；所述的测量模块是由第一传感组件、第二传感器、第一支架、第二支架、底座组成，所述第一支架、第二支架分别安装在所述底座两端，所述第一传感器安装所述第一支架、第二支架之间的底座上，所述第二传感器组件安装在所述第二支架下端，所述第一支架、第二支架、第二传感器均在同一水平面上；所述第一传感器组件包括角度传感器与滚轮，其中滚轮与传感器的转轴过盈连接，在测量时，所述滚轮与被测物体轮廓相接触，并沿被测物体轮廓上作无滑动滚动带动角度传感器旋转，所述角度传感器不断采样得到轮廓上各点的累积弧长值；所述第二传感器为位移传感器，用于测量各点的累积弧长对应的近似曲率。

4.根据权利要求1-3之一所述的二维轮廓形状的测量装置，其特征在于所述处理模块是由计算机及相应的测量数据处理软件构成的；采集模块是由数据采集卡或数据采集仪器组成的，且与测量模块及处理模块相连接。