[发明专利]一种基于红外焦平面非均匀性指纹模式的校正方法

权利要求书

1.一种基于红外焦平面探测器非均匀性指纹模式的图像校正方法，包括：

一、原始数据采集步骤：将红外焦平面探测器置于恒温箱中，在恒温箱内的环境温度从设定的下限温度起，每增加一恒定温度增量采集一组帧数固定的图像序列，直至设定的上限温度，从而得到多组不同环境温度的图像序列；

二、非均匀性指纹提取步骤：以上述多组图像序列中红外焦平面探测器工作稳定以后的图像为基础数据，利用归一化和最小二乘算法计算出红外焦平面探测器非均匀性指纹，其中，红外焦平面探测器非均匀性指纹指红外焦平面探测器相对稳定的非均匀性模式及其随温度变化的规律；

三、校正处理步骤：首先，以环境温度作为输入参数，根据上述提取出来的非均匀性指纹计算出非均匀性特征图再利用校正公式对红外焦平面探测器实际所成图像进行校正：

AftimgX‾(x,j)=imgX‾(i,j)-imgNU‾(i,j)+mean(imgNU‾),]]>

其中，为校正后的图像，(i，j)表示图像矩阵上第i行第j列的像素位置，mean()表示对矩阵求均值，为红外焦平面探测器当前输出的实际红外图像。

2.如权利要求1所述的一种基于红外焦平面探测器非均匀性指纹模式的图像校正方法，其特征在于，所述的原始数据采集步骤包括：

把红外焦平面探测器置于恒温箱内，恒温箱的温度能在一定的温度范围内进行调节，把红外焦平面探测器工作时周围的环境温度记为T_S，红外焦平面探测器在恒温箱设定的环境温度下工作，对面源黑体进行成像，在面源黑体温度T_B恒定的情况下，恒温箱从设定的环境温度下限T_SL变化到环境温度上限T_SH，红外焦平面探测器每间隔恒定的环境温度增量ΔT_S采集一组面源黑体图像序列作为实验数据，红外焦平面探测器在恒温箱设定的每个环境温度下的采集时间相同，均为t秒，采集到的面源黑体图像帧数也一样，均为FrmNumber帧，FrmNumber为自然数，红外焦平面探测器共采集到M组图像序列，M为自然数，计算公式为：

M＝(T_SH-T_SL)/ΔT_S+1，

取采集面源黑体图像序列时的M个环境温度组成为M×1的矩阵，的各个元素取值为：

TSA‾(n)=TSL+(n-1)ΔTS,n=1,2,LM.]]>