[发明专利]取像装置及侦测物体运动的方法有效

专利信息
申请号: 200910302690.5 申请日: 2009-05-27
公开(公告)号: CN101902570A 公开(公告)日: 2010-12-01
发明(设计)人: 袁崐益 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: H04N5/225 分类号: H04N5/225;G01P13/02;G02B1/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 装置 侦测 物体 运动 方法
【权利要求书】:

1.一种取像装置,其包括镜头模组和影像感测器,光线通过所述镜头模组后在所述影像感测器上成像,其特征在于:所述镜头模组保留至少两种波长光线的纵向色差。

2.如权利要求1所述的取像装置,其特征在于:所述镜头模组包括若干镜片,至少一个所述镜片由高色散率材料制成。

3.如权利要求2所述的取像装置,其特征在于:所述高色散材料为聚碳酸酯。

4.如权利要求1所述的取像装置,其特征在于:所述镜头模组保留蓝光和红光的纵向色差。

5.如权利要求1所述的取像装置,其特征在于:所述影像感测器为CMOS感测器或CCD感测器。

6.一种侦测物体运动的方法,其包括以下步骤:

在非单一波长光源的照射下,在第一时间,利用一取像装置取得物体的第一影像,所述取像装置包括镜头模组和影像感测器,光线通过所述镜头模组后在所述影像感测器上成像,所述镜头模组至少保留两种波长光线的纵向色差,不同波长的光线对应不同最佳物平面;

比较第一影像中第一波长光线的影像和第二波长光线的影像的清晰度以判断物体靠近第一波长光线的最佳物平面或第二波长光线的最佳物平面;

在非单一波长光源的照射下,在第二时间,利用取像装置取得物体的第二影像;

比较第二影像中第一波长光线的影像和第二波长光线的影像的清晰度以判断物体靠近第一波长光线的最佳物平面或第二波长光线的最佳物平面;

根据第一时间和第二时间物体的位置关系得出物体运动方向。

7.如权利要求6所述的侦测物体运动的方法,其特征在于:所述影像感测器为CMOS感测器或CCD感测器。

8.如权利要求6所述的侦测物体运动的方法,其特征在于:所述第一波长光线的波长值大于所述第二波长光线的波长值。

9.如权利要求8所述的侦测物体运动的方法,其特征在于:当所述第一影像中所述第一波长光线的影像的清晰度大于所述第二波长光线的影像的清晰度时,所述第一位置距离靠近所述第一波长光线的最佳物平面;当所述第二影像中所述第一波长光线的影像的清晰度小于所述第二波长光线的影像的清晰度时,所述第二位置靠近所述第二波长光线的最佳物平面,由此侦测物体向靠近所述取像装置的方向运动。

10.如权利要求8所述的侦测物体运动的方法,其特征在于:当所述第一影像中所述第一波长光线的影像的清晰度小于所述第二波长光线的影像的清晰度时,所述第一位置靠近所述第二波长光线的最佳物平面;当所述第二影像中所述第一波长光线的影像的清晰度大于所述第二波长光线的影像的清晰度时,所述第二位置靠近所述第一波长光线的最佳物平面,由此侦测物体向远离所述取像装置的方向运动。

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