[发明专利]电子探棒控制系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试工具的控制系统，特别涉及一种调整电子探棒的探针之间的距离以进行信号测试的控制系统。

背景技术

电子探棒广泛应用于电子产品电气特性的测量，通常，电子探棒的前端为导电的探针，探针用于触接电子产品，例如与电脑主机板上芯片的引脚相接触，电子探棒的后端用于连接信号分析仪器，如示波器等。电子产品测试点的信号通过电子探棒显示在信号分析仪器上，供测试者分析。电子探棒上探针的数量根据测试点中信号接触点的数量而定。如今，电子产品的测试越来越受到其小型化设计的限制，尤其是一个测试点往往包含一个信号接触点及与其距离非常微小的一地接触点，或者是一对距离微小的差分信号的接触点，通过人工操作使电子探棒的两个探头分别接触在测试点的两个接触点上具有很大的操作难度，也会造成测试误差，有时，甚至需要在测试点焊接导线，然后将导线转接至电子探棒的探头，导线会降低信号的传输品质，且焊接时很难保证电子产品的元件不受损害。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种电子探棒控制系统，可通过微调电子探棒的探头之间的距离，使其准确接触在测试点上。

一种电子探棒控制系统，包括一控制装置、一机械手臂及一电子探棒，所述电子探棒包括对称安装的一第一探针及一第二探针，每一探针包括互为一体的一旋转根部、一旋转臂及一接触部，每一探针的旋转臂自对应的旋转根部弯折延伸而成，每一探针的接触部自对应的旋转臂弯折延伸而成，所述第一、第二探针的接触部及旋转根部互相平行，所述控制装置用于根据每一旋转臂的长度、所述第一、第二探针的旋转根部之间的垂直距离以及所述第一、第二探针的两接触部之间一预设的垂直距离确定所述机械手臂分别带动每一探针绕另一探针的旋转根部的旋转角度，从而将所述第一、第二探针的接触部之间的垂直距离调整为所述预设的垂直距离。

所述电子探棒控制系统通过所述控制装置控制所述机械手臂的旋转以对所述第一、第二探针的旋转臂进行定位，使得所述第一、第二探针接触部的垂直距离调整至所述预设的垂直距离。所述电子探棒控制系统避免了人工操作时误差大及操作不便的缺点，因此可准确调整探针的接触部之间的距离，使探针准确接触在测试点上。

附图说明

图1是本发明电子探棒控制系统较佳实施方式的模块图。

图2是图1中的电子探棒的结构图。

图3是图1中的探针位置初调装置的结构图。

图4是图1、图2中的电子探棒与图3中的探针位置初调装置配合时的俯视示意图

图5是探针运动至一第二位置的平面几何分析图。

具体实施方式

下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：

请参照图1及图2，本发明电子探棒控制系统1的较佳实施方式包括一控制装置12、一机械手臂14、一位置初调装置4及一电子探棒20，所述控制装置12包括依次连接的一输入单元124、一运算单元126及一命令单元128。

所述电子探棒20包括一本体23及两探针21、22。所述探针21包括互成一体的一旋转根部210、一旋转臂211及一接触部212，所述旋转根部210的一自由端插入所述本体23的一端面230，所述旋转根部210垂直于所述本体23的端面230，所述旋转臂211由所述探针21自其旋转根部210弯折延伸而成，所述接触部212由所述旋转臂211弯折延伸而成，且与所述旋转根部210相互平行。所述旋转根部210与旋转臂211之间的夹角大于0度小于180度。所述探针22包括一旋转根部220、一旋转臂221及一接触部222，所述探针21及22具有相同的结构，且互相对称。所述探针21、22作为所述电子探棒20的信号输入端。

所述电子探棒20还包括一信号输出端24，其通过所述电子探棒20内部的导线与所述探针21及22相连，所述探针21及22用于与需要测试的一电子装置5的测试点相接触从而将该测试点的信号传输至所述信号输出端24，所述电子探棒20通过其信号输出端24连接一信号分析装置3，如一示波器。所述信号分析装置3用于仿真并分析该测试点的信号以测试该电子装置5的性能。

所述探针21、22的接触部212及222用于与所述电子装置5的电路中的两信号端相接触，如一差分信号对或一信号端及接地端。