[发明专利]三维观测系统均匀性分析方法有效

专利信息
申请号: 200910307343.1 申请日: 2009-09-19
公开(公告)号: CN102023310A 公开(公告)日: 2011-04-20
发明(设计)人: 周明非;碗学俭;沈万杰;符力耘;吴树奎;张松平;杨波;邓会平;孙伟家 申请(专利权)人: 中国石油化工集团公司;中国石化集团中原石油勘探局地球物理勘探公司
主分类号: G01V1/28 分类号: G01V1/28;G01V1/30
代理公司: 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 代理人: 韩天宝
地址: 100728 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 三维 观测 系统 均匀 分析 方法
【权利要求书】:

1.一种三维观测系统匀均性分析方法,通过计算覆盖次数分布非均匀系数、炮检距分布非均匀系数、方位角分布非均匀系数和炮检覆盖非均匀系数,从单个面元、多个面元两个层面上,定性和定量的分析给定的三维观测系统的覆盖次数、炮检距、方位角、炮检覆盖分布的均匀性,指导观测系统设计,其特征在于包括以下步骤:

(1)由现有的观测系统方案得到SPS数据;

(2)由SPS数据计算得到不同三维观测系统地震采集满覆盖区内多个面元属性数据,包括每一个面元内的覆盖次数、炮检距和方位角,并将炮检距和方位角数据从大到小排序;

(3)分别计算覆盖次数、方位角、炮检距、炮检覆盖的非均匀系数;

(4)根据地震勘探目的将覆盖次数、方位角分布、炮检距、炮检覆盖非均匀系数权重排序优选观测系统方案。

2.根据权利要求1所述的三维观测系统匀均性分析方法,其特征在于覆盖次数均匀性分析方法包括以下步骤:

(1)读入SPS数据计算出各个面元内的覆盖次数;

(2)计算覆盖次数非均匀系数并对非均匀系数成图;

计算公式如下:

σ2=1m-1Σi=2m(Ni-Ni-1-Δ)2]]>

其中N为各面元覆盖次数;

Δ为理想覆盖次数平均变化值,一般为零;

m为计算区域范围内的面元个数;

(3)将不同地震采集三维观测系统多个面元(指定区域)覆盖次数非均匀系数图件和覆盖次数非均匀系数值进行比较,优选其中:覆盖次数非均匀系数值最小的方案(理想值为0)。

3.根据权利要求1或2所述的三维观测系统匀均性分析方法,其特征在于炮检距均匀性分析方法如下:

(1)由SPS数据计算得到不同三维观测系统地震采集满覆盖区内多个面元炮检距数据,将每一个面元的炮检距数据从大到小排序;

(2)将每一个面元内炮检距按最小炮检距和最大炮检距等间隔分成N-1段,每一段为式中Xmin为最小炮检距,Xmax为最大炮检距,N为覆盖次数;

(3)运用统计均方差公式计算出每一个面元内的炮检距分布非均匀系数并成图。公式如下所示:

式中,N为覆盖次数,Xi表示炮检距第i道炮检距。一般情况下σ2≥0,σ2越小,炮检距分布就越均匀,在上面所述最为理想的情况下σ2=0;

统计所有面元的炮检距的非均匀系数σ,再计算出整个满覆盖区域炮检距非均匀系数的均值

将不同地震采集三维观测系统满覆盖区域(指定区域)炮检距非均匀系数图件和均值进行比较,优选其中:

对观测系统单个面元分析优选其中炮检距分布非均匀系数值σ最小的方案(理想值为0);

对观测系统多个面元(满覆盖区)分析优选其中炮检距分布非均匀系数值最小的为最优。

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