[发明专利]循环上电测试装置无效

专利信息
申请号: 200910308456.3 申请日: 2009-10-19
公开(公告)号: CN102043693A 公开(公告)日: 2011-05-04
发明(设计)人: 熊金良 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F1/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 循环 测试 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种循环上电测试装置。

背景技术

在计算机或服务器的可靠性测试中,有一个循环上电测试的项目,即模拟市电的接入与关断使得计算机或服务器上电与断电,以验证计算机或服务器的上电成功率。在该循环上电测试中,一般通过设定一交流电源的上电持续时间、断电持续时间及循环次数,以使得该交流电源间断且循环地给计算机或服务器供电。所述计算机或服务器在上电持续时间内开机并进入到一操作系统,然后所述操作系统调用关机命令使得所述计算机或服务器关机。所述计算机或服务器关机后所述交流电源进入到断电持续时间。然后根据计算机或服务器成功上电的次数判断该计算机或服务器是否合格,如此对所述计算机或服务器进行循环上电测试。这种测试方法在测试结束后可以得知该计算机或服务器成功上电的次数。然而当一次上电失败后该交流电源将继续给计算机或服务器进行下一次供电,工作人员则观察不到这次上电失败时的现象,亦无法得知这次上电失败的原因。另外为了确保所述计算机或服务器有足够的时间正常开机,所述交流电源的上电持续时间往往被设置得比较长,使得所述循环上电测试的效率比较低。

发明内容

鉴于上述内容,有必要提供一种在电子设备上电失败时可方便工作人员观察上电失败的现象,且测试效率较高的循环上电测试装置。

一种循环上电测试装置,用于对一电子设备进行循环上电测试,所述循环上电测试装置包括:

一取样电路,其第一端与所述电子设备的一第一接口相连,所述取样电路用于将所述第一接口的一第一电压信号转化为一第二电压信号;

一控制电路,其第一端与所述取样电路的第二端相连,所述控制电路的第二端与所述取样电路的第三端相连,所述取样电路的第二端输出所述第二电压信号给所述控制电路,所述取样电路的第三端输出所述第一电压信号给所述控制电路,所述控制电路根据所述第一电压信号及第二电压信号输出一第三电压信号;及

一供电电路,其第一端与所述控制电路的第三端相连,所述供电电路的第二端与一外部交流电相连,所述供电电路的第三端与所述电子设备的一电源供应器相连,所述控制电路输出的第三电压信号控制所述供电电路连接或断开所述外部交流电与所述电源供应器的连接。

本发明循环上电测试装置通过所述取样电路输出所述第一电压信号及第二电压信号,使得所述控制电路对应输出所述第三电压信号以控制所述供电电路断开或接通所述电子设备与外部交流电的连接,从而实现所述电子设备的循环上电测试且在电子设备上电不完全或关机失败时可使得电子设备不再断电从而停止测试,以方便工作人员观察此时的现象。

附图说明

图1为本发明循环上电测试装置的较佳实施方式的方框图。

图2为图1的电路图。

具体实施方式

下面参照附图结合具体实施方式对本发明作进一步的描述。

请参照图1,本发明循环上电测试装置用于对一电子设备,如一计算机,进行循环上电测试。本发明循环上电测试装置的较佳实施方式包括一取样电路100、一控制电路200及一供电电路300。

所述取样电路100的第一端与所述计算机的一接口10相连,所述取样电路100的第二端与所述控制电路200的第一端相连。所述取样电路100用于将所述第一接口的一第一电压信号转化为一第二电压信号给所述控制电路200。

所述控制电路200的第二端与所述取样电路100的第三端相连以直接接收所述接口10的第一电压信号,所述控制电路200的第三端与所述供电电路300的第一端相连以输出一第三电压信号给所述供电电路300。

所述供电电路300的第二端与所述外部交流电20相连,所述供电电路300的第三端与一位于计算机内部的电源供应器400相连。所述控制电路200输出的第三电压信号控制所述供电电路300接通或断开外部交流电20与电源供应器400的连接。

请继续参考图2,所述取样电路100包括一接口、一可变电阻R1、一放电电阻R2、一电容C1、电阻R3~R5及两电子开关。本实施方式中,所述接口为一通用串行总线(UniversalSerial Bus,USB)接口110,所述两电子开关分别为绝缘栅场效应管Q1及Q2。

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