[发明专利]SAS接口测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种SAS接口测试装置。

背景技术

SAS(Serial Attached SCSI)，即串行连接SCSI(Small computer systems interface，小型计算机系统接口)，是新一代的SCSI技术，其是在并行SCSI之后开发出来的全新接口技术。SAS接口的设计是为了改善存储系统的效能、可用性和扩充性。目前测试SAS接口的方法是测试一具有SAS接口的SAS硬盘，从而测试SAS接口的数据读写功能。然而这种测试方法在较恶劣的测试环境下，如高温或低温，容易损坏SAS硬盘，使得测试成本较高。

发明内容

鉴于上述内容，有必要提供一种可以取代SAS硬盘以对SAS接口测试的SAS接口测试装置。

一种SAS接口测试装置，用于测试一SAS接口，所述SAS接口测试装置包括：

一用于接收外部测试指令的SAS信号调节芯片，其与所述SAS接口相连；

一用于存储配置信息的第一存储芯片，其与所述SAS信号调节芯片相连，所述配置信息包含有SAS信号调节芯片的工作模式等信息；

一用于SATA数据与SAS数据转换的SAS/SATA信号转换器，其与所述SAS信号调节芯片相连；

一用于SATA数据与并行数据转换的串行/并行信号转换器，其与所述SAS/SATA信号转换器相连；及

一用于存储并行数据的第二存储芯片，其与所述串行/并行信号转换器相连。

本发明SAS接口测试装置通过所述SAS信号调节芯片确定工作模式，所述SAS/SATA信号转换器进行SATA数据与SAS数据之间的转换，所述串行/并行信号转换器进行SATA数据与并行数据之间的转换，所述第二存储芯片存储并行数据。本发明SAS接口测试装置模拟了SAS硬盘以对SAS接口测试，降低了测试成本。

附图说明

图1为本发明SAS接口测试装置的较佳实施方式的原理图。

具体实施方式

下面参照附图结合具体实施方式对本发明作进一步的描述。

请参照图1，本发明SAS接口测试装置100用于对一SAS接口200进行测试。本发明SAS接口测试装置100的较佳实施方式包括一SAS信号调节芯片102、一第一存储芯片104、一指示灯106、一SAS/SATA信号转换器108、一串行/并行信号转换器110、一石英振荡器112及一第二存储芯片114。

所述SAS接口200包括一供电端PWS、一电源接口PWR、一第一硬盘数据端DH1、一第二硬盘数据端DH2及一主板数据端DB。所述电源接口PWR及主板数据端DB均与一主板300相连。

所述SAS信号调节芯片102的型号为PMC8381，其包括一第一电源端PW1、一第一数据传输端DT1、一第二数据传输端DT2、一第三数据传输端DT3、一第四数据传输端DT4、一通用输入/输出端口(General Purpose Input/Output)GP1、一配置端口TWI及七位寻址端口D1～D7。所述第一电源端PW1与所述SAS接口200的供电端PWS相连。第一数据传输端DT1与所述SAS接口200的第一硬盘数据端DH1相连，第三数据传输端DT3与所述SAS接口200的第二硬盘数据端DH2相连。所述配置端口TWI与所述第一存储芯片104相连。所述通用输入/输出端口GP1与所述指示灯106相连。所述指示灯106用于指示所述SAS信号调节芯片102的工作状态。比如，当所述SAS信号调节芯片102正常工作时，即所述SAS信号调节芯片102成功接收外部的测试指令并设定工作模式时，所述指示灯106显示绿色；当所述SAS信号调节芯片102工作异常时，即所述SAS信号调节芯片102不能根据外部测试指令设定工作模式时，所述指示灯106显示红色。

所述SAS/SATA信号转换器108的型号为LSISS1320，其包括一第一SAS信号端PA1、一第二SAS信号端PA2、一第一SATA信号端PB1及一第二电源端PW2。所述第一SAS信号端PA1与所述SAS信号调节芯片102的第二数据传输端DT2相连，所述第二SAS信号端PA2与所述SAS信号调节芯片102的第四数据传输端DT4相连。所述第二电源端PW2与所述SAS接口200的供电端PWS相连。