[发明专利]存储设备旋转振动测试系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种存储设备测试系统及方法，特别是关于一种存储设备旋转振动测试系统及方法。

背景技术

在信息技术迅速发展的今天，数据存储需求日益增加，存储器(例如硬盘)向着高容量、高转速的趋势发展。为了存储更多的数据，存储设备中包含的存储器越来越多。这种情况下，在对一个存储设备读/写数据时，该存储设备内安装的存储器容易受到自身的旋转振动(例如硬盘驱动器产生的旋转振动)或者该存储设备的风扇的旋转振动的影响而出现不稳定的状态，从而影响该存储设备的性能。

为了正确评估存储器及风扇的旋转振动对存储设备造成的影响，需要对存储设备进行旋转振动测试，以便采取适当的措施降低旋转振动带来的影响。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种存储设备旋转振动测试系统，能够快速有效地对存储设备实施旋转振动测试。

此外，还有必要提供一种存储设备旋转振动测试方法，能够快速有效地对存储设备实施旋转振动测试。

一种存储设备旋转振动测试系统，运行于与存储设备通信连接的主机中，所述存储设备包括至少一个存储器以及至少一个风扇，该系统包括：设置模块，用于设置存储设备的测试参数，所述测试参数包括待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；选择模块，用于从待测的存储器中逐一选择存储器；风扇控制模块，用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速，并且控制风扇以该选择的转速运转；负载控制模块，用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载，并且对存储设备产生该选择的工作负载；测试模块，用于根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能；及存储模块，用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。

一种存储设备旋转振动测试方法，所述存储设备包括至少一个存储器以及至少一个风扇，该方法包括步骤：设置存储设备的测试参数，所述测试参数包括待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；从待测的存储器中选择一个存储器；从待测的风扇转速中选择一个风扇转速；控制风扇以该选择的转速运转；从待测的工作负载中选择一个工作负载；对存储设备产生该选择的工作负载；根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能；存储选择的存储器的读写性能的测试数据；若有其他待测的工作负载，则返回选择工作负载的步骤；若有其他待测的风扇转速，则返回选择风扇转速的步骤；及若有其他待测的存储器，则返回选择存储器的步骤。

本发明设置存储设备的测试参数，根据设置的测试参数模拟各种工作环境，从而快速有效地实现对存储设备的旋转振动测试。

附图说明

图1为本发明存储设备旋转振动测试系统较佳实施例的运行环境示意图。

图2为本发明存储设备旋转振动测试系统的功能模块图。

图3为本发明存储设备旋转振动测试方法较佳实施例的流程图。

主要元件符号说明