[发明专利]板卡测试装置及方法无效

专利信息
申请号: 200910311843.2 申请日: 2009-12-18
公开(公告)号: CN102103536A 公开(公告)日: 2011-06-22
发明(设计)人: 李圣义 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G06F11/267 分类号: G06F11/267
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 板卡 测试 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种测试装置及方法,特别涉及一种用于测试板卡的测试装置及方法。

背景技术

板卡是计算机内的主板及其扩展卡,如显卡、声卡、网卡等的统称。板卡是计算机的主要组成组件,它提供了指挥数据传输的南桥、北桥芯片组、总线、外围装置数据传输接口等。板卡的稳定性以及集成功能是板卡品质的重要决定因素,因此,需要对板卡进行稳定性、兼容性及各参数性能的测试。一般的方法是将待测的板卡安装于一测试计算机中,经由测试计算机执行相关的测试程序以取得测试结果,并将该测试结果通过网络传输给中央服务器,以此判断该待测板卡是否符合性能要求。

传统的测试方法中每个测试台需要占用一台计算机以用来对待测板卡进行测试及将测试结果传输给中央服务器,导致测试设备费用高。

发明内容

鉴于以上内容,有必要提供一种测试成本低的板卡测试装置及方法。

一种板卡测试装置,用于测试一待测板卡的SPI总线信号及IIC总线信号,所述板卡测试装置包括:

一SPI总线端口,用于连接所述待测板卡的SPI总线端口,以接收所述待测板卡输出的SPI总线信号;

一IIC总线端口,用于连接所述待测板卡的IIC总线端口,以接收所述待测板卡输出的IIC总线信号;

一信号转换器,用于连接所述IIC总线端口,以将所述IIC总线端口接收到的IIC总线信号转换为数字信号并通过所述IIC总线端口输出;

一串行接口,用于连接一扫描设备,以将所述扫描设备扫描获得的待测板卡的序列号信息输出;

一网络芯片;

一网络端口,用于连接所述网络芯片及与一中央服务器的网络端口通信;

一开关,用于开启或关闭所述板卡测试装置;

一显示屏,用于将测试过程中的提示信息进行显示;及

一微控制器通过所述网络端口接收所述中央服务器存储的所述板卡测试装置的设定IP地址,并判断接收到的IP地址是否与自己的IP地址一致,若一致则通过所述显示屏显示连接正常信息,所述微控制器通过所述SPI总线端口接收所述待测板卡输出的SPI总线信号,所述微控制器通过所述IIC总线端口接收经所述信号转换器转换后的所述待测板卡输出的IIC总线信号,所述微控制器将接收到的SPI总线信号及IIC总线信号经内部测试程序处理后通过所述网络端口发送给所述中央服务器,以使所述中央服务器对待测板卡的测试结果进行记录并显示。

一种板卡测试方法,用于测试一待测板卡,包括以下步骤:

S1:一微控制器接收一中央服务器存储的所述板卡测试装置的设定IP地址,并判断接收到的IP地址是否与自己的IP地址一致,若不一致,执行S2,若一致,执行S3;

S2:显示连接失败信息;

S3:显示连接正常信息;

S4:显示输入序列号信息;

S5:扫描待测板卡的序列号并将所述序列号发送给所述微控制器,以使所述微控制器将所述序列号发送给所述中央服务器;

S6:所述中央服务器将接收到的序列号与内部存储的序列号进行比对,若不一致,执行S7,若一致,执行S9;

S7:向所述微控制器发送序列号错误信息;

S8:显示序列号错误信息;

S9:向所述微控制器发送测试指令;

S10:接收所述待测板卡输出的SPI总线信号及接收经一信号转换器转换后的待测板卡输出的IIC总线信号,将接收到的SPI总线信号及经转换后的IIC总线信号经过所述微控制器的内部测试程序处理后发送给所述中央服务器;

S11:根据处理结果判断测试是否通过,若没有通过,执行S12,若通过,执行S13;

S12:向所述中央服务器发送测试项目代码和测试失败信息代码,记录测试项目代码和测试失败信息代码;

S13:向所述中央服务器发送测试项目代码和测试通过信息代码,记录测试项目代码和测试通过信息代码;

S14:判断所述待测板卡的所有测试项目是否通过,若没有通过,返回S9,若通过,执行S15;及

S15:向所述中央服务器发送测试结束信息代码,记录并显示所有测试通过结果。

相较现有技术,所述板卡测试装置及测试方法通过所述微控制器将接收到的所述待测板卡输出的SPI及IIC总线信号经过内部测试程序处理后通过所述网络端口发送给中央服务器,以使所述中央服务器对所述待测板卡的测试结果进行记录并将其显示给测试人员。所述板卡测试装置及测试方法操作简单,可以取代计算机对待测板卡进行测试,降低了测试设备的成本。

附图说明

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