[实用新型]探针

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种探针，特别是涉及一种用以测试一印刷电路板的探针。

背景技术

为了对电子产品的质量进行控管，一般需要藉由对电子产品内的印刷电路板进行电性测试，来加以判断印刷电路板上各组件的电性参数是否合乎质量标准。

常见的测试方式是在印刷电路板的线路上设置测试点，并且在各测试点的表面分别以锡膏形成球状凸起结构，通过自动化测试设备以尖头形式的探针直接接触位于测试点的球状凸起结构，来加以量取相关的电性参数(例如电阻值、电容值或电感值等)。

随着加工精度的提升以及因应电子产品微小化需求，印刷电路板亦朝向小型化的方向发展，测试点的尺寸也因此必须缩小。但是，因为自动化测试设备难免发生定位误差，在测试过程中经常会发生探针扎偏测试点的现象，而影响了测试的质量。因此，如何根据测试点的尺寸找出适合的探针设计为一待解决的问题。

实用新型内容

因此，本实用新型的目的，即在提供一种在测试点尺寸逐渐缩小下仍不会扎偏测试点的探针。

于是，本实用新型探针用以测试一印刷电路板上的测试点，该探针包含一探针头部及多个尖端部。该探针头部为圆柱形，且该探针头部的直径相对于该测试点的直径的比例介于1.42倍至2.15倍。所述这些尖端部呈矩阵式排列地连接于该探针头部末端，各该尖端部为倒锥形且具有一端点。

该探针头部的直径相对于该测试点的直径的比例较佳地为介于1.8倍至2倍，而最佳地为1.8倍。

该端点至该探针头部的高度至少为0.14mm，较佳地为介于0.14mm至0.2mm，而最佳地为0.19mm。

该探针包含九个尖端部，且该探针头部的直径相对于二相邻端点的间距的比例介于2.78倍至3.17倍。在本实用新型的一实施例中，该探针头部的直径为0.64mm，二相邻端点的间距为0.22mm。

较佳地，各该尖端部为倒四角锥形。

本实用新型的功效：藉由该探针头部的直径相对于该测试点的直径的比例介于1.42倍至2.15倍的设计，使该探针在该测试点尺寸逐渐缩小下仍不会扎偏该测试点。

附图说明

图1是一立体图，说明本实用新型探针的较佳实施例；

图2是该较佳实施例的仰视图；以及

图3是一示意图，说明该较佳实施例与一印刷电路板上的测试点。

主要组件符号说明：

1...............探针      21..................测试点

11..............探针头部  D1..................测试点直径

12..............尖端部    D2..................探针头部直径

121.............端点      H...................高度

13..............本体部    S...................间距

2...............电路板

具体实施方式

有关本实用新型的前述及其他技术内容、特点与功效，在以下配合参考附图的一个较佳实施例的详细说明中，将可清楚地呈现。

参阅图1、图2与图3，本实用新型探针1的较佳实施例，用以测试一印刷电路板2上的测试点21，在本实施例中，测试点21为锡膏制成的球状凸起物且其直径为D1。

探针1包含一供连接于自动化测试设备(图未示)的本体部13、一连接于本体部13的末端的探针头部11，以及多个以呈矩阵式排列的形式连接于探针头部11末端的尖端部12。各尖端部12为倒锥形且具有一端点121。在本实施例中，本体部13的直径小于探针头部11的直径，且本体部13、探针头部11与该多个尖端部12为一体成型。

为方便之后的说明，定义探针头部11的直径为D2、端点121至探针头部11的高度为H、二相邻端点121的间距为S。

探针头部11的直径D2相对于测试点21的直径D1的比例介于1.42倍至2.15倍。而较佳地为介于1.8倍至2倍，而最佳地为1.8倍。藉由探针头部11的直径D2相对于测试点21的直径D1的比例设计，使探针1在测试点21尺寸逐渐缩小下仍不会扎偏测试点21，确保探针1与测试点21接触的准确性。