[实用新型]一种内存转接测试座无效
| 申请号： | 200920006783.9 | 申请日： | 2009-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN201444524U | 公开（公告）日： | 2010-04-28 |
| 发明（设计）人： | 张光荣 | 申请（专利权）人： | 张光荣 |
| 主分类号： | H01R31/06 | 分类号： | H01R31/06;H01R13/66;H01R13/68;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京邦信阳专利商标代理有限公司 11012 | 代理人： | 高之波 |
| 地址： | 330800 江西省高*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 内存 转接 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种内存转接测试座，包括接触电路PCB板和内存槽连接器，所述内存槽连接器包括弹片端子和塑胶槽，所述接触电路PCB板上设有转接金手指、线路及通过线路与所述转接金手指一一对应的焊盘，所述接触电路PCB板的焊盘与所述弹片端子一一对应电连接，其特征在于，所述塑胶槽的两端设有与所测试的内存条的尺寸匹配的导引限位槽。
2.根据权利要求1所述的一种内存转接测试座，其特征在于，所述弹片端子设有加长的直线形力臂。
3.根据权利要求1所述的一种内存转接测试座，其特征在于，所述弹片端子的固定根部加长并设有至少3处刺破固定倒刺。
4.根据权利要求1到3任一所述的一种内存转接测试座，其特征在于，所述接触电路PCB板上还设有电连接于所述线路中的2个保险丝。
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