[实用新型]一种边带噪音测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及信号处理技术，特别是一种边带噪音测试装置，主要用于分析微波信号的边带噪声、相位噪声、幅度噪声的关系，测量信号的边带噪声近似替代相位噪声的测量。

背景技术

随着信号处理技术的进步，对信号的稳定度要求愈来愈高。稳定度又分为长期稳定度和短期稳定度，通常更着重短期稳定度。由于对稳定度的测试存在一些问题，上世纪80年代以后，几乎都用相位噪声表征信号的稳定度。

信号的边带噪声一般可用频谱仪来测量。信号的边带噪声包括调频噪声(相位噪声)、调幅噪声、热噪声，但主要是调频噪声，即相位噪声，其它噪声所占比例很小。所以用频谱仪测量到的边带噪声可近似认为就是相位噪声。

由于频谱仪自身基准信号源边带噪声的影响，每个频谱仪都有基底噪声，这就限制了频谱仪测量信号边带噪声的范围，当信号的边带噪声接近甚至小于频谱仪基底噪声时，频谱仪就无法测量。

当信号的边带噪声很低时，往往用相位噪声测试系统进行测试。相位噪声测试系统，也有一台高级的低相噪信号源作为基准信号，也存在基底噪声问题。为了避开基准信号的基底噪声问题，在研制极低相位噪声信号源时，往往制作两台性能一样的，其中一台可以有外部锁相的信号源，然后通过相位测量系统进行相位噪声的测试，测试结果再减3dB，就认为是他们的相位噪声。

目前，测量相位噪声的技术和仪器存在如下问题：

①频谱仪由于基底噪声比较高，无法测量很低相噪的信号。

②相位噪声测试系统的基底噪声虽然比频谱仪的基底噪声低，但仍不能满足单台很低相噪信号的测量。

③对于相位噪声接近或低于相位噪声测试系统基底噪声的信号，必须有两台这种信号源，并可以有外界锁相，才能用相位噪声测试系统来测试。

④相位噪声测试系统价格昂贵，一般中小型企业难于配置。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种边带噪音测试装置，它简单、有效、而且系统的基底噪声低，可以测量偏离载频fm≥1KHz边带噪声(近似于相位噪声)。

本实用新型的技术方案，提供一种边带噪音测试装置，它包括双平衡混频器、高通滤波器、放大器、频谱仪，其特征是：双平衡混频器、高通滤波器、放大器、频谱仪依次串联电连接；双平衡混频器输入端分别连接本振噪声信号和被测信号。

所述的双平衡混频器的变损≤10dB，本振噪声抑制≥40dB，本振功率L₀＝15dBm，输入1dB压缩点P-1in≥9dBm。

所述的高通滤波器：3dB点频率f_3dB≤1KHz，60dB点频率f_60dB≥100Hz。

所述的放大器：频率1KHz～2MHz，增益G＝60dB～80dB。

所述的频谱仪为8563EC或E4440A。

本实用新型的优点是：

由于双平衡混频器对本振噪声抑制≥40dB，本振功率15dBm，被测信号0dBm，使本振噪声的影响减小40dB-15dB＝25dB。

如：用信号源MG3692A作本振，基底噪声可以达到：

Fm(偏离载频)1KHz    10KHz    100KHz    1MHz

基底噪声    -119    -123     -140      -160dBc/Hz

使信号源MG3692A的噪声影响减小25dB。将偏离载频fm(1K、10K、100K、1M)各点的增益测出，再用频谱仪将fm＝1K、10K、100K、1M上的噪声功率测出，就可以根据输入功率算出边带噪声dBc/Hz的值，比较简单、有效。

附图说明

下面结合实例附图对本实用新型作进一步说明。

图1是本实用新型实施例电路框图；

图2是高通滤波器电路图。

图中，1、双平衡混频器；2、高通滤波器；3、放大器；4、频谱仪。

具体实施方式

实施例如图1所示，它包括双平衡混频器1、高通滤波器2、放大器3、频谱仪4，依次串联电连接；双平衡混频器1输入端分别连接本振信号F_L和被测信号f_o；

其中，双平衡混频器1：变损≤10dB，本振噪声抑制≥40dB，本振功率L₀＝15dBm，输入1dB压缩点P-_1in≥9dBm。

高通滤波器2选用T型滤波器如图2所示：3dB点频率f_3dB≤1KHz，60dB点频率f_60dB≥100Hz。