[实用新型]弱光探测仪及其标校系统无效

专利信息
申请号: 200920033727.4 申请日: 2009-06-30
公开(公告)号: CN201449290U 公开(公告)日: 2010-05-05
发明(设计)人: 张周锋;赵建科;潘亮;赛建刚;袁稥兰 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00;G01J1/04
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 商宇科
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 弱光 探测仪 及其 系统
【权利要求书】:

1.一种弱光探测仪,其特征在于:所述弱光探测仪包括天文望远镜以及与其电性相连的CCD探测器。

2.根据权利要求1所述的弱光探测仪,其特征在于:所述CCD探测器是高量子效率以及暗噪声小的CCD探测器。

3.根据权利要求2所述的弱光探测仪,其特征在于:所述CCD探测器是暗噪声不高于0.008e-/p/sec、动态范围不低于8位、量子效率不小于90%、分辨率不低于1024×1024的CCD探测器。

4.根据权利要求1或2或3所述的弱光探测仪,其特征在于:所述天文望远镜是口径不小于300mm、角分辨率不低于0.38″以及可探测极限星等不低于+14.2mv的天文望远镜。

5.一种基于权利要求1所述的弱光探测仪的弱光探测标校系统,其特征在于:所述弱光探测标校系统包括光源、星模拟装置以及弱光探测仪;所述光源、星模拟装置以及弱光探测仪依次置于同一光路上。

6.根据权利要求5所述的弱光探测标校系统,其特征在于:所述弱光探测标校系统还包括衰减片,所述衰减片置于光源和星模拟装置之间。

7.根据权利要求5或6所述的弱光探测标校系统,其特征在于:所述星模拟装置是星模拟器或平行光管。

8.根据权利要求7所述的弱光探测标校系统,其特征在于:所述弱光探测标校系统还包括用于调整被测相机入瞳位置的调整架。

9.根据权利要求7所述的弱光探测标校系统,其特征在于:所述光源是点光源或普通性的一般光源。

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