[实用新型]弱光探测仪及其标校系统无效
申请号: | 200920033727.4 | 申请日: | 2009-06-30 |
公开(公告)号: | CN201449290U | 公开(公告)日: | 2010-05-05 |
发明(设计)人: | 张周锋;赵建科;潘亮;赛建刚;袁稥兰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01J1/00 | 分类号: | G01J1/00;G01J1/04 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 商宇科 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 弱光 探测仪 及其 系统 | ||
1.一种弱光探测仪,其特征在于:所述弱光探测仪包括天文望远镜以及与其电性相连的CCD探测器。
2.根据权利要求1所述的弱光探测仪,其特征在于:所述CCD探测器是高量子效率以及暗噪声小的CCD探测器。
3.根据权利要求2所述的弱光探测仪,其特征在于:所述CCD探测器是暗噪声不高于0.008e-/p/sec、动态范围不低于8位、量子效率不小于90%、分辨率不低于1024×1024的CCD探测器。
4.根据权利要求1或2或3所述的弱光探测仪,其特征在于:所述天文望远镜是口径不小于300mm、角分辨率不低于0.38″以及可探测极限星等不低于+14.2mv的天文望远镜。
5.一种基于权利要求1所述的弱光探测仪的弱光探测标校系统,其特征在于:所述弱光探测标校系统包括光源、星模拟装置以及弱光探测仪;所述光源、星模拟装置以及弱光探测仪依次置于同一光路上。
6.根据权利要求5所述的弱光探测标校系统,其特征在于:所述弱光探测标校系统还包括衰减片,所述衰减片置于光源和星模拟装置之间。
7.根据权利要求5或6所述的弱光探测标校系统,其特征在于:所述星模拟装置是星模拟器或平行光管。
8.根据权利要求7所述的弱光探测标校系统,其特征在于:所述弱光探测标校系统还包括用于调整被测相机入瞳位置的调整架。
9.根据权利要求7所述的弱光探测标校系统,其特征在于:所述光源是点光源或普通性的一般光源。
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