[实用新型]一种外场环境下激光与可见光两光轴瞄准偏差测试装置无效
申请号: | 200920034501.6 | 申请日: | 2009-09-11 |
公开(公告)号: | CN201514204U | 公开(公告)日: | 2010-06-23 |
发明(设计)人: | 高明;吴振森;倪晋平;侯宏录;杜玉军;李建超;马卫红;吕宏;王青松 | 申请(专利权)人: | 西安工业大学 |
主分类号: | G01B11/27 | 分类号: | G01B11/27 |
代理公司: | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人: | 黄秦芳 |
地址: | 710032*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 外场 环境 激光 可见光 光轴 瞄准 偏差 测试 装置 | ||
1.一种外场环境下激光与可见光两光轴瞄准偏差测试装置,包括发射机构、调整机构和接收组件,其特征在于:所述发射机构包括设置于调整机构上的第一观瞄镜(2)和激光器(1),调整机构分别包括设置于光学平台(4)上的激光器调整机构(5)、第一观瞄镜调整机构(6)、第二观瞄镜调整机构(7)和激光接收物镜调整机构(8);所述的接收组件包括第二观瞄镜(9)、激光接收光学系统和CCD(18),所述第二观瞄镜(9)设置于第二观瞄镜调整机构(7)上,激光接收光学系统由滤光片(12)、物镜第一透镜(13)、物镜第二透镜(14)、物镜第三透镜(15)、物镜第一反射镜(16)和物镜第二反射镜(17)组成,第一观瞄镜(2)光轴与激光器(1)光轴等高,第二观瞄镜(9)光轴和激光接收物镜(3)光轴等高,CCD(18)置于激光接收光学系统的成像面上,且其中心与激光接收光学系统的光轴同心等高。
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