[实用新型]金属杂质检测装置有效
申请号: | 200920041246.8 | 申请日: | 2009-03-27 |
公开(公告)号: | CN201408177Y | 公开(公告)日: | 2010-02-17 |
发明(设计)人: | 张俊仁;陈永增 | 申请(专利权)人: | 常熟新发镁业有限公司 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04 |
代理公司: | 南京众联专利代理有限公司 | 代理人: | 周新亚 |
地址: | 215500江苏省常熟*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 金属 杂质 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种杂质检测装置,特别涉及一种对金属中氧化膜等夹渣的检测机器。
背景技术
金属在生产铸件过程的高温高压环境中会产生很多不纯物夹渣,尤其金属液面易氧化形成氧化膜而卷入铸件中,氧化膜会对合金产生不良影响,例如金属液面氧化膜对金属铸件品质的影响。所以在金属生产工艺中检测金属氧化膜等夹渣可以确认合金锭的品质以达到提高合金锭的品质的目的。
目前产业界检测这些氧化膜等不纯物夹渣的办法是以电子显微镜观察金属中氧化膜的晶相,藉此明确检测到这些夹渣,但是这个检测过程比较复杂时间长,操作人员的专业水平要求较高,而且对电子显微镜设备操作技术、维护费用和检测成本较高。
在专利申请号为:200810018787.9的专利申请中公开了一种镁合金中氧化物及夹渣的检测方法,本实用新型可以作为该方法中的检测装置使用。由上述镁合金中氧化物及夹渣的检测方法,同理可应用于有色金属系列,例如镁系列、铝系列、锌系列、铜系列、钛系列等等,其它有色金属,亦可使用本发明,金属中氧化膜等夹渣的检测机器,进行检测,吾人就不再详述。
发明内容
本实用新型为了克服上述缺点,提供了一种结构简单,可以快速检测且准确率高的金属杂质检测装置。
本实用新型的技术方案是:一种金属杂质检测装置,包括机台,机台内设有金属磨抛系统和金属杂质超声波检测系统。
所述金属磨抛系统包括金属磨抛机,其下方连接有吸尘器,金属磨抛机和吸尘器均由开关面板控制。
所述金属杂质超声波检测系统包括超声波震荡机,超声波震荡机的检测舱内设有容器,机台上设有溶剂进口阀和溶剂出口阀,容器配套有可揭开的容器盖,超声波震荡机由开关面板控制。
在本实用新型的金属磨抛系统上对金属试片进行研磨抛光处理,之后再放入本实用新型的超声波检测舱的容器内,然后施以超声波处理。金属试片进行超声波处理时,夹杂物会首先发生裂痕,进而裂痕延伸而连接在一起,最后自金属基质上剥离下来,因此在试片表面生成雾状的破损痕迹。使用本实用新型装置通过上述操作步骤,可以快速,准确的诊断出金属氧化膜的形态、分布、尺寸、位置及数量,进而确认其组成,本实用新型还具有成本低,可以在生产线上做炉前样品检测等优点。
附图说明
图1为本实用新型实施例的结构示意图;
其中:1、金属磨抛机,2、吸尘器,3、超声波检测仓,4、容器,5、溶剂,6、容器盖,7、溶剂进口阀,8、溶剂出口阀,9、控制开关,10、控制开关,11、机台。
具体实施方式
为进一步了解本实用新型的内容及凸显其结构上的优点,现以具体实施方式配合附图详细阐述如下。
如图1所示本设实施例中机台11上部一侧设有金属磨抛机1,金属磨抛机1转盘罩壳的底盘下方通过管道连接有吸尘器2,用以吸取金属试片磨抛过程中产生的金属或夹杂物碎屑,金属磨抛机1和吸尘器均由控制开关9控制。
在机台11另一侧装有超声波装置,其中的超声波检测仓3内装有容器4,金属试片在进行磨抛处理后,放入容器4内,通过溶剂进口阀7注入溶剂5,由控制开关10开启超声波装置对金属试片进行超声波震荡处理,溶剂可以是蒸馏水,处理结束后,溶剂经溶剂出口阀8排除。
利用本实用新型进行杂质检测的具体方法为:将打磨抛光后的金属试片用夹具放入超声波检测仓容器内,内装300ml~3000ml蒸馏水或专用溶剂,以频率20~128kHz,震荡处理3~6分钟。浸泡震荡处理后的试片,用夹具取出,抛光面喷洒酒精并以热风吹干。
试片在震荡期间,会产生白色雾状区域以团状、片状或条状斑痕出现在抛光面上,并且会随震荡时间增加而变多,金属试片生震荡期间因液体中空泡爆破产生高强度的微喷流及冲击波作用在氧化膜上,于是造成金属基地上质脆的氧化膜发生冲蚀破坏,最后自金属试片上剥离下来,形成空泡冲蚀的表面。剥离的面积愈大,试品表面被冲蚀的痕迹愈大,表示金属试片的氧化夹杂愈多。
上述测试试片,以目视判断或用扫描式电子显微镜(SEM)观察雾状痕迹的位置,配合电子微探仪(EPMA)进行氧化膜的图像(Mapping)分析以确认其组成。
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