[实用新型]一种高灵敏度微压力传感器芯片有效

专利信息
申请号: 200920041807.4 申请日: 2009-03-24
公开(公告)号: CN201508260U 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 王树娟;何宇亮 申请(专利权)人: 无锡市纳微电子有限公司
主分类号: G01L1/18 分类号: G01L1/18;G01L9/00
代理公司: 无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) 32227 代理人: 顾吉云
地址: 214028 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 灵敏度 压力传感器 芯片
【说明书】:

(一)技术领域

本实用新型涉及压力传感器领域,具体为一种高灵敏度微压力传感器芯片。

(二)背景技术

目前国内高灵敏度微压力传感器非常紧缺,其价格昂贵几乎全部由国外进口,目前国内仅能够在实验室小批量生产1KPa量程的微压力传感器,其由于受到设备条件的限制无法形成规模生产。而现有的硅压力传感器采用体微机械加工技术,其桥路力敏电阻之间采用PN结隔离,所以其受温度影响很明显,其稳定性不好。

(三)发明内容

针对上述问题,本实用新型提供了一种高灵敏度微压力传感器芯片,其易加工、生产成本低,且精度高、稳定性好。

其技术方案是这样的,其特征在于:其包括硅基衬底、复合绝缘膜、纳米硅力敏电阻、内引脚线、绝压腔,所述硅基衬底的正反面装有所述复合绝缘膜,所述复合绝缘膜的上表面覆盖有所述纳米硅力敏电阻,所述纳米硅力敏电阻引出所述内引脚线,所述硅基衬底的底部为背大膜区和背岛,所述硅基衬底的底部通过硅玻璃键合形成绝压腔,所述纳米硅力敏电阻具体为纳米硅层。

其进一步特征在于:所述硅基衬底具体为正反两面抛光的N型或P型硅基,所述复合绝缘膜具体为SiO2和Si3N4组成的复合绝缘膜,所述纳米硅层的本征厚度为4μm-6μm,所述内引线覆盖有合金。

本实用新型的上述结构中,纳米硅薄膜的电信号不像通常的半导体材料是热激发式传导原理,而是通过纳米硅自身的特点,即从单电子穿过诸多量子点的遂穿机制为主,因此纳米硅薄膜受温度影响不大,其稳定性好。由于本发明所采用的制作工艺简单,其适于大规模生产,且其易加工、生产成本低;其传感器芯片能够感受0——100Pa的微压力,所以其灵敏度很高,其精度高。

(四)附图说明

图1为本实用新型加工的工艺流程图;

图2为本实用新型的结构示意图。

(五)具体实施方式

见图2,本实用新型包括硅基衬底1、复合绝缘膜2、纳米硅力敏电阻4、内引脚线5、绝压腔3,硅基衬底1的正反面装有复合绝缘膜2,上层复合绝缘膜上有纳米硅力敏电阻4,纳米硅力敏电阻4上引出内引脚线5,硅基衬底1的底部为背大膜区和背岛6,硅基衬底1的底部通过硅玻璃键合形成绝压腔3,纳米硅力敏电阻具体为纳米硅层。硅基衬底1具体为正反两面抛光的N型或P型硅基,复合绝缘膜具2体为SiO2和Si3N4组成的复合绝缘膜,内引脚线5覆盖有合金,纳米硅层的本征厚度为4-6μm。

加工时,见图1,1b:采用正反两面抛光的N型或P型硅基作衬底1,1a:在硅基衬底1的正反两面各生长一层SiO2和Si3N4组成的复合绝缘膜2,1c:在上层复合绝缘膜2上沉积掺杂或本征厚度4μm-6μm的纳米硅层,1d:在纳米硅层上注入N型或P型杂质后通过光刻平面工艺制作成纳米硅力敏电阻4,掺浓硼或浓磷在纳米硅力敏电阻上引出内引线5,1e:蒸AL反刻引出内引线合金化,1f:硅基衬底1反面通过体微加工形成背大膜区和背岛6,1g:硅基衬底1底部通过硅玻璃键合形成绝压腔3。

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