[实用新型]低应力芯片凸点封装结构有效

专利信息
申请号: 200920045055.9 申请日: 2009-05-26
公开(公告)号: CN201421840Y 公开(公告)日: 2010-03-10
发明(设计)人: 曹凯;张黎;赖志明;陈锦辉;陈栋 申请(专利权)人: 江阴长电先进封装有限公司
主分类号: H01L23/485 分类号: H01L23/485;H01L23/482
代理公司: 江阴市同盛专利事务所 代理人: 唐纫兰
地址: 214434江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 应力 芯片 封装 结构
【权利要求书】:

1、一种低应力芯片凸点封装结构,包括芯片本体(1)、芯片电极(2)、芯片表面钝化层(3)、凸点下应力缓冲层(4)、接触电极(5)和应力缓冲层上焊料凸点(6),其特征在于:所述凸点下应力缓冲层(4)相互分隔开来不连续。

2、根据权利要求1所述的一种低应力芯片凸点封装结构,其特征在于:所述凸点下应力缓冲层(4)为高分子绝缘材料。

3、根据权利要求2所述的一种低应力芯片凸点封装结构,其特征在于:所述高分子绝缘材料是聚酰亚胺或环氧树脂。

4、根据权利要求1所述的一种低应力芯片凸点封装结构,其特征在于:所述应力缓冲层上焊料凸点(6)包括焊球和焊膏回流后所形成的凸点。

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