[实用新型]一种测试电源的保护电路有效

专利信息
申请号: 200920058072.6 申请日: 2009-06-09
公开(公告)号: CN201450307U 公开(公告)日: 2010-05-05
发明(设计)人: 李锦灵 申请(专利权)人: 广州易迩达电子有限公司
主分类号: H02H3/08 分类号: H02H3/08
代理公司: 广州知友专利商标代理有限公司 44104 代理人: 宣国华
地址: 511442 广东省广州市番禺区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 电源 保护 电路
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种保护电路,特别是涉及应用于以低电压供电的电子装置的生产测试场合中,对供电电源和供电电子装置进行保护的电路。

背景技术

在以低电压供电的电子装置的生产测试中,为了提高生产效率,供电电源通常处于常开状态,电源通过测试器具或插件直接连接电子装置进行供电测试,在实际测试过程中,一般不会在测试治具或插件与被测试装置连接正常后才打开电源测试,因此就要求保护电路不但实现对电源的保护,还要同时保护被测试装置不会出现新的故障,以免扩大故障范围。

在现有技术中,传统测试电源的保护电路的工作过程如下:如果检测到过流则切断电源,待过流状态解除后,被测试装置重新通电,而后又重新检测过流,形成一个不断循环的通电、断电的保护电路,但是,现有保护电路存在的缺陷是:电路处于保护状态时,工作电流比较大,以致易于对电源或被测试装置造成损坏。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种能够在保护状态时有效保护供电电源和被测试装置不受损坏的测试电源的保护电路。

本实用新型的目的可以通过以下的技术措施来实现,一种测试电源的保护电路,包括电源的输入端P1和电源的输出端P2,其特征在于还包括PNP晶体管Q1及Q4、NPN晶体管Q2及Q3、电阻R1、R2、R3、R4、R5、R6及R7,PNP晶体管Q1的发射极与电源输入端P1的正极连接,其基极通过电阻R1与电源输出端P2的正极连接,PNP晶体管Q1的集电极通过电阻R2接地并通过旁路电阻R3与NPN晶体管Q2的基极连接,NPN晶体管Q2的发射极接地,其集电极分别与NPN晶体管Q3的基极、电阻R4连接,电阻R4的另一端与电源输入端P1的正极连接,NPN晶体管Q3的发射极接地,其集电极通过电阻R5与PNP晶体管Q4的基极连接,PNP晶体管Q4的发射极连接电源输入端P1的正极,其集电极通过电阻R6与电源输出端P2的正极连接,电阻R7串联在电源输入端P1的正极与电源输出端P2的正极之间。

本实用新型可以做以下改进,在PNP晶体管Q1的发射极与基极之间连接有电容C1。电容C1可用于防止误保护动作的发生。

与现有技术相比,本实用新型的优点是:必须在空载状态下才能恢复正常的连通供电,而在保护状态下一直保持断开电源供给负载,只有移除负载后才能自动恢复连通供电而等待其它负载使用,可有效保护供电电源和负载装置,与现有电源保护电路相比,在处于保护状态时,不会产生工作电流大的问题,从而避免了由于工作电流大而损坏电源或被测试装置的现象发生。

附图说明

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的详细说明。

图1为本实用新型的电路组成图。

具体实施方式

如图1所示,本实用新型一种测试电源的保护电路,包括电源的输入端P1和电源的输出端P2,还包括PNP晶体管Q1及Q4、NPN晶体管Q2及Q3、电阻R1、R2、R3、R4、R5、R6及R7,PNP晶体管Q1的发射极与电源输入端P1的正极连接,其基极通过电阻R1与电源输出端P2的正极连接,PNP晶体管Q1的集电极通过电阻R2接地并通过旁路电阻R3与NPN晶体管Q2的基极连接,NPN晶体管Q2的发射极接地,其集电极分别与NPN晶体管Q3的基极、电阻R4连接,电阻R4的另一端与电源输入端P1的正极连接,NPN晶体管Q3的发射极接地,其集电极通过电阻R5与PNP晶体管Q4的基极连接,PNP晶体管Q4的发射极连接电源输入端P1的正极,其集电极通过电阻R6与电源输出端P2的正极连接,电阻R7串联在电源输入端P1的正极与电源输出端P2的正极之间。

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