[实用新型]一种光纤半导体激光气体分析仪有效
| 申请号： | 200920058712.3 | 申请日： | 2009-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN201429565Y | 公开（公告）日： | 2010-03-24 |
| 发明（设计）人： | 石兆奇 | 申请（专利权）人： | 石兆奇 |
| 主分类号： | G01N21/39 | 分类号： | G01N21/39;G02B6/42 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 734300甘肃*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 光纤 半导体 激光 气体 分析 | ||
【权利要求书】：
1、一种光纤半导体激光气体分析仪，包括半导体激光器、待测气室、分析控制器，其特征是：还包括光纤耦合装置和光电传感器，所述的光纤耦合装置包括光纤耦合接头、光纤插孔和光纤耦合器，半导体激光器与光纤耦合接头相连接，待测气室的一端通过光纤连接到光纤插孔上，另一端与光电传感器的输入端相连接，光电传感器的输出端与分析控制器相连接；半导体激光器发出的激光通过光纤耦合接头进入光纤耦合装置，被耦合部分聚焦耦合形成光束，通过光纤插孔进入光纤。
2、根据权利要求1所述的一种光纤半导体激光气体分析仪，其特征是：所述的光纤耦合器包括准直透镜和离轴透镜，半导体激光器发出的激光依次通过准直透镜和离轴透镜被聚焦耦合。
3、根据权利要求1所述的一种光纤半导体激光气体分析仪，其特征是：所述的光纤耦合器包括锥端球面微透镜，半导体激光器发出的激光通过锥端球面微透镜聚焦耦合。
4、根据权利要求1所述的一种光纤半导体激光气体分析仪，其特征是：所述的待测气室包括进气口和出气口，待测气室的一端设有一小孔，其孔径与光纤外径相同，用于连接光纤。
5、根据权利要求1或4所述的一种光纤半导体激光气体分析仪，其特征是：所述待测气室的进气口和出气口设在待测气室的同一侧。
6、根据权利要求1或4所述的一种光纤半导体激光气体分析仪，其特征是：所述待测气室的进气口和出气口设在待测气室的不同侧。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于石兆奇，未经石兆奇许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200920058712.3/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
