[实用新型]数控机床两维移动轨迹动态测量仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种动态轨迹测量仪，特别涉及一种数控机床两维移动轨迹动态测量仪。

背景技术

目前，国内市场对数控加工机械的需求量非常大，并且呈持续增加的趋势，因此，国内数控机床的产量也相应地增加；除在数量需求上的增加外，随着市场对产品水平要求的日益提高，对加工机械的质量和精度的要求也在同时提高中，因此对机床生产厂来说，要提高产量和提高质量，必须在技术、生产方法、产品检验等方面上作出改良。

在国内数控机床精度检测中，最广泛使用的是球杆仪和激光干涉仪。从性能上来说，激光干涉仪着重于检测机床单轴精度，进行静态测量或部分动态精度测量，而非在于多轴的轴同动测量；球杆仪主要是测量在机床进行两轴圆型运动时的动态精度，这种动态测量是当机床按预定程序以球杆仪长度为半径走圆时，传感器检测到机床动运半径方向的变化，分析软件将机床的直线度、垂直度、反向间隙、各轴的比例是否匹配及伺服性能等从半径的变化中分离出来，也就是说，这种在国内使用泛为最广的测量仪器，在测量的过程中，只能做圆形运动，对其它动运轨迹如转角等则无法进行测量，同时由于这种仪器的测量数据有限，且为复合资料，故其故障分析能力并不理想。此外，激光干涉仪和球杆仪的使用也较为麻烦，进行动态测量时，需由激光测量仪和球杆仪配套使用，如果激光测量仪精度失准，校准方式只有两种：以另一套仪器为标准进行校对或送回原厂家代为校准；而如果仪器出现故障，就只能送回原厂家维修，除此以外别无它法。

至于国外的一些动态轨迹测量仪，因价格高，会大量增加成本。

在没有动态轨迹测量仪的情形下，机床厂如要实施动态测试，一般会由被测机床进行工件加工，然后对工件以座标测量仪进行精度测量，这方法较为不直接，因工件的精度不但受机床精度所影响，同时受刀具、加工方法等的影响，而且这种测量方式所需时间较长。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服上述缺点，提供一种数控机床两维移动轨迹动态测量仪，测量数控机床两直线轴的动态轨迹及位置精度等。

为解决上述问题，本实用新型的数控机床两维移动轨迹动态测量仪，其包括两轴数控云台和位移检测部分，其中位移检测部分主要由两个位移测量感应器组成，位移测量感应器以水平直角方式安装在两轴数控云台的移动平台上。

此外，位移检测部分还包括测量柱。

其中的两轴数控云台包括两层，每一层包括底座、底座两侧边上的线性导轨、与移动平台连接并与线性导轨匹配的线性滑块，移动平台由与电机接触的皮带带动进行移动。

两轴数控云台的第一层的移动平台可以作为第二层的底座，第二层移动平台的移动方向与第一层的移动方向呈直角。

本实用新型的数控机床两维移动轨迹动态测量仪，由于采用两轴数控云台和两个位移测量感应器的结构，可以对被测量机床进行任何轨迹的动态测量，所测数据更为全面，并且由于是直接对被测量机床进行测量，可以减少其它非机械精度的因素对测量结果的影响，同时，由于本实用新型属机械性测量仪，维修及校准的可操作性更强，并降低成本。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图。

图2为本实用新型中的两轴数控云台的结构示意图。

图3为本实用新型中的位移检测部分的结构示意图。

图号说明：

1…两轴数控云台     2…位移检测部分    3…X轴位移感应器

4…Y轴位移感应器    5…测量柱          6…底座

7…线性导轨         8…线性滑块        9…移动平台

10…皮带            11…电机

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

本实用新型的数控机床两维移动轨迹动态测量仪(图1)，其包括两轴数控云台1(图2)和位移检测部分2(图3)，其中的位移检测部分2主要由X轴位移感应器3和Y轴位移感应器4两个位移测量感应器组成(例如LVDT(差动式位移检出变压器)原件)，位移测量感应器以水平直角方式安装在两轴数控云台1的移动平台上，用以测出测量柱5的X轴向和Y轴向的位移量；此外，位移检测部分2还可以包括测量柱5。

两轴数控云台1(图2)包括两层，每一层包括底座6、底座6两侧边上的线性导轨7、与移动平台9连接并与线性导轨7匹配的线性滑块8，移动平台9由与电机11接触的皮带10带动进行移动。