[实用新型]一种存储卡的转接器无效
申请号: | 200920066714.7 | 申请日: | 2009-01-06 |
公开(公告)号: | CN201365052Y | 公开(公告)日: | 2009-12-16 |
发明(设计)人: | 张习;林文汉;向庭广 | 申请(专利权)人: | 英华达(上海)电子有限公司 |
主分类号: | H01R31/06 | 分类号: | H01R31/06;H01R13/66;H01R13/629;H01R13/639 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 蒋贤起;逯长明 |
地址: | 200233上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 存储 转接 | ||
技术领域
本实用新型涉及电路板技术领域,特别是一种存储卡的转接器。
背景技术
对存储卡之类产品来说,金手指的重要性不言而喻,金手指的导电性和稳定性是保证存储卡稳定工作的前提。如果存储卡的金手指被磨损,将会极大地影响存储卡内数据读取的速度和质量,甚至导致无法读取存储卡内的数据。所以,现有的存储卡的金手指接口普遍采用先进镀金工艺制作,以期能够提高存储卡的耐磨损性能。
同时,采用镀金等方式对金手指进行耐磨处理的成本很高,工艺复杂。
在对存储卡进行测试的过程中,可能会涉及到对存储卡进行程序加载、锁定、解锁等处理,这些处理过程都需要对存储卡进行频繁的插入、拨出。每次插入、拨出都增加了金手指镀金层的磨损程度。
为了减少测试过程对存储卡金手指的镀金层所造成的磨损,只能改进插入和拨出的力度和角度,或者是改进镀金层的质量,使其更耐磨损。
但是,这些措施要么依赖于测试人员自身的业务素质,要么会明显地提高生产成本。
实用新型人在实现本实用新型的过程中,发现现有技术中至少存在如下问题:
现有技术无法提供一种成本比较低廉的产品,来减少对存储卡金手指镀金层的磨损。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型一个或多个实施例的目的在于提供一种存储卡的转接器,以实现以较低的成本,减少测试过程中对存储卡金手指镀金层的磨损,从而延长存储卡的使用寿命。
为解决上述问题,本实用新型实施例提供了
一种存储卡的转接器,包括:
第一电连接部,具有与镀金处理前的金手指相同的物理结构;
第二电连接部,与存储卡的金手指相匹配,用于通过所述金手指与所述存储卡之间进行数据交换;
所述第一电连接部和所述第二电连接部相互连接。
与现有技术相比,本实用新型实施例具有以下优点:
能够实现以较低的成本,减少测试过程中对存储卡金手指镀金层的磨损,从而延长存储卡的使用寿命。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1所示,是一种存储卡的示意图;
图2所示,是本实用新型的实施例一的结构图;
图3-4所示,是本实用新型实施例的使用过程示意图;
图5所示,是本实用新型实施例使用过程流程图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图1所示,是一种存储卡的示意图,其外部尺寸是:长度为32毫米,宽度为24毫米,厚度为2毫米。存储卡10的一侧设置有金手指12,包括8个触点,用于与外部器件之间进行数据读写操作。一侧设置有写保护装置11,用于分别将存储卡设置为读写操作允许,或者仅仅允许读操作,以保护存储卡10内数据免受意外损失。
对于本实用新型实施例而言,图1所示的存储卡的物理特性仅仅是一种示例,不能构成对本实用新型保护范围的具体限定。随着技术的发展,会不断有新的规格和技术标准的存储卡出现,只要这些新出现的存储卡与外部设备之间进行数据读写操作的中介,是通过采用金手指方式进行,都需要进行频繁的数据读写,为了防止金手指部分的磨损,而进行成本高的镀金或其他方式处理的存储卡,都完全在不付出创造性劳动的情况,可以运用本实用新型的技术方案实现,并且,其技术效果显然没有超出本实用新型实施例。
如图2所示,是本实用新型的实施例一,包括:
第一电连接部201,具有与镀金处理前的金手指相同的物理结构;
第二电连接部202,与存储卡的金手指相匹配,用于通过所述金手指与所述存储卡之间进行数据交换;
所述第一电连接部和所述第二电连接部相互连接。
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