[实用新型]在嵌入式闪存测试过程中产生和显示位图信息的装置无效
申请号: | 200920074754.6 | 申请日: | 2009-12-03 |
公开(公告)号: | CN201576463U | 公开(公告)日: | 2010-09-08 |
发明(设计)人: | 辛吉升;桑浚之 | 申请(专利权)人: | 上海华虹NEC电子有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 孙大为 |
地址: | 201206 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 嵌入式 闪存 测试 过程 产生 显示 位图 信息 装置 | ||
1.一种在嵌入式闪存测试过程中产生和显示位图信息的装置,其特征在于,包括:
一个故障位图转换模块;
所述故障位图转换模块一端连接故障信息采集模块;
所述故障位图转换模块另一端连接一个故障位图显示模块;
所述故障位图转换模块连接一个模式控制模块,并由模式控制模块控制。
2.如权利要求1所述的在嵌入式闪存测试过程中产生和显示位图信息的装置,其特征在于,所述故障位图显示模块显示的图形格式文件信息中,所有比特位的故障信息情况均显示。
3.如权利要求2所述的在嵌入式闪存测试过程中产生和显示位图信息的装置,其特征在于,所述比特位的故障信息包括每个比特位0故障、1故障、0/1均故障及无故障的信息。
4.如权利要求1所述的在嵌入式闪存测试过程中产生和显示位图信息的装置,其特征在于,所述故障位图显示模块显示的图形格式文件信息中,在故障位图显示模块中有选择地显示仅在某种故障上的比特位。
5.如权利要求1所述的在嵌入式闪存测试过程中产生和显示位图信息的装置,其特征在于,所述故障位图显示模块显示的图形格式文件信息中,将每个存储器芯片的故障位图按照坐标排列起来,得到整枚晶圆的故障位图;在该故障位图图形中,在选定的位置上显示出物理位置的信息。
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