[实用新型]摆锤冲击试验机低温试样码盘装样装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种试样码盘装样装置，特别涉及一种摆锤冲击试验机低温试验时机械手自动上样系统中试样码盘装样装置。

背景技术

传统的摆锤冲击试验机做低温试验时，通常采用手工送样方法，即用试样夹钳从低温箱内取出低温试样，放入冲击砧座上，然后进行冲击过程。这种方法对于成批试验时的缺点是：1.劳动强度大；2.短距离接触低温环境容易造成冻伤手指现象；3.在放试样于砧座时万一摆锤失控从高处落下砸伤手指；4.手工取试样送到砧座对中放试样再开始冲击试样，即试样从离开低温箱到完成试样冲击，所花时间难以保证国家标准所规定的时间限度。

随着科学技术的飞速发展，目前，在摆锤冲击试验机做低温试验装样时，急切需要一种新的解决方案来代替人工送样方式，从而解决上述劳动强度大以及造成冻伤手指现象等问题。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种摆锤冲击试验机低温试样码盘装样装置，该摆锤冲击试验机低温试样码盘装样装置解决了人工送样劳动强度大以及造成冻伤手指现象等问题。

为解决上述技术问题，所述的摆锤冲击试验机低温试样码盘装样装置，其特征在于：主要由与外设驱动装置连接并随之作圆周运动的圆盘装置3和设置在该圆盘装置3上端并随之转动的试样码盘4组成，所述圆盘装置3上设有多个试样码盘定位销1，试样码盘4通过该试样码盘定位销1固定在圆盘装置3上；在试样码盘4上等间距开设有多个凹槽口，在每个凹槽口内设有当标准试样5嵌入凹槽口时能准确定位的试样缺口定位销6，在试样码盘4上还设有两个用于移动和安放试样码盘4的码盘提钩7。

所述圆盘装置3为一圆盘，所述试样码盘4为一四分之一圆环，在所述圆盘装置3的上端边缘上放置有四个所述试样码盘4。

在所述圆盘装置3上设有号码柱2，该号码柱2的放置位置与所述试样码盘4上放置所述标准试样5的凹槽口的位置相对应。

所述试样码盘定位销1为圆锥形。

所述码盘提钩7由金属材料制成，在码盘提钩7的下端设有螺纹，在所述试样码盘4上设有与该螺纹相匹配的螺纹孔。

本实用新型提供一种摆锤冲击试验机低温试样码盘装样装置，由于整个过程快速、准确、方便，与现有技术相比，具有以下优点：

1.加快了低温试验的速度，提高了工作效率；

2.方便了操作者进行低温装样形式，从而避免了冻伤手指的情况，提高了安全系数.

附图说明

图1为本实用新型摆锤冲击试验机低温试样码盘装样装置的结构示意图。

图2为本实用新型摆锤冲击试验机低温试样码盘装样装置的试样码盘的俯视结构示意图。

图3为本实用新型摆锤冲击试验机低温试样码盘装样装置的试样码盘的左视结构示意图。

图中：1.试样码盘定位销，2.号码柱，3.圆盘装置，4.试样码盘，5.标准试样，6.试样缺口定位销，7.码盘提钩。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步说明：

如图1、图2及图3所示的摆锤冲击试验机低温试样码盘装样装置，主要由与外设驱动装置连接并随之作圆周运动的圆盘装置3和设置在该圆盘装置3上端并随之转动的试样码盘4组成，所述圆盘装置3上设有多个试样码盘定位销1，试样码盘4通过该试样码盘定位销1固定在圆盘装置3上；在试样码盘4上等间距开设有多个凹槽口，在每个凹槽口内设有当标准试样5嵌入凹槽口时能准确定位的试样缺口定位销6，在试样码盘4上还设有两个用于移动和安放试样码盘4的码盘提钩7。

所述圆盘装置3为一圆盘，所述试样码盘4为一四分之一圆环，在所述圆盘装置3的上端边缘上放置有四个所述试样码盘4。

在所述圆盘装置3上设有号码柱2，该号码柱2的放置位置与所述试样码盘4上放置所述标准试样5的凹槽口的位置相对应。

所述试样码盘定位销1为圆锥形。

所述码盘提钩7由金属材料制成，在码盘提钩7的下端设有螺纹，在所述试样码盘4上设有与该螺纹相匹配的螺纹孔。

所述试样码盘定位销1为金属材料，圆锥形，有若干个，安装于圆盘装置上同一圆周等间距位置。

所述的号码柱2为金属材料，在其上端面刻有1～60阿拉伯数字，安装于圆盘装置上同一圆周等间距位置。

实施本实用新型摆锤冲击试验机低温试样码盘装样装置的方法，具体操作如下：

步骤1：将标准试样5若干个，先后放入试样码盘4上的凹槽口内并且将标准试样5的缺口卡住试样缺口定位销6，即为缺口定位。