[实用新型]磷化膜测量装置无效

专利信息
申请号: 200920080435.6 申请日: 2009-04-23
公开(公告)号: CN201382911Y 公开(公告)日: 2010-01-13
发明(设计)人: 梁琛华 申请(专利权)人: 梁琛华
主分类号: G01N27/00 分类号: G01N27/00;G01N29/14
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地址: 621700四川省江*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 磷化 测量 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种测量装置,尤其是在一种金属工件上显示磷化膜存在的测量装置。

背景技术

国家标准(GB6807-86)对磷化膜质量的检验内容包括外观、磷化膜重量、磷化膜耐蚀性能及涂层耐蚀性能检验。在实际工作中,除有特殊要求外,均用目视的方法对磷化膜进行外观检验。由于人眼的分辨率有限,故使用这种方法具有局限性,无法确保在工件表面是否存在磷化膜,易造成涂层缺陷。

发明内容

为了克服用目视方法检验磷化膜外观质量的缺陷,利用金属导电而磷化膜绝缘的基本原理,本实用新型提供一种磷化膜测量装置,该装置能快捷可靠的检测工件表面是否存在磷化膜,而且还能判断磷化膜的完整性。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:包括电源、电阻、音乐集成电路、晶体三极管、扬声器、测量笔插座等元件,在绝缘壳体中,将音乐集成电路的1脚和2脚接电源正极和扬声器的负极,音乐集成电路的3脚接电源的负极和晶体三极管的发射极,音乐集成电路的4脚接晶体三极管的基极,音乐集成电路的5脚和6脚接电阻,晶体三极管的集电极接扬声器的正极,构成音乐电路;并将该电路中的任意一点断开,其断开点的两端与测量笔插座进行电连接,两支测量笔的连接端分别插入测量笔插座的两个插孔,两支测量笔的测量端与待测金属工件上任意两点或指定两点接触。

本实用新型磷化膜测量装置所用测量笔的测量端为滚轮,或圆锥形;具有良好的导电性能。作为测量笔测量端的滚轮轮缘,其轴向尺寸小于6mm。

由于本实用新型采用了音乐电路,在电路中任意一点断开并在断开点的两端设置了测量笔插座,使用时,将两支测量笔的连接端插入插座中,然后将测量笔的测量端接触待测的工件表面。如果工件表面上均匀覆盖了一层磷化膜,则两测量笔在工件表面任意位置接触时,测量装置均不发出声音;反之,如果工件表面没有磷化膜,则两测量笔之间形成电导通,电路自动接通,发出声音,达到方便检验磷化膜外观质量的目的。同时由于本实用新型的测量端为滚轮,可以方便快捷地测量工件表面磷化膜外观质量;而圆锥形的测量端,则特别适用于测量异型工件表面。

本实用新型具有快捷可靠判定工件表面磷化膜质量,以及磷化膜在工件表面是否均匀分布的特点。

附图说明

图1是本实用新型磷化膜测量装置的测量笔插座设置在音乐集成电路的2脚与电源正极之间的电路原理示意图。

图2是本实用新型磷化膜测量装置的测量笔插座设置在扬声器的负极与电源正极之间的电路原理示意图。

图3是本实用新型磷化膜测量装置的测量笔插座设置在音乐集成电路的4脚与晶体三极管基极之间的电路原理示意图。

图4是装置外形示意图。

图中10.电源,11.电阻,12.音乐集成电路,13.晶体三极管,14.扬声器,15.测量笔插座,16.测量笔,17.绝缘壳体,18.装置后盖,19.连接螺钉。

具体实施方式

本实用新型插座位置可设在电路中的任意位置,图1所示为测量笔插座15设置在音乐集成电路12的2脚与电源10正极之间的本实用新型电路原理示意图。测量笔插座15一端接音乐集成电路12的2脚,另一端接电源10的正极。发音装置可采用音乐或语音集成电路,本实施例中,采用音乐集成电路12作为发音装置。

在图1中,音乐集成电路(HFC9300)12的1脚接电源(3V)10的正极和扬声器(0.25W/8Ω)14的负极,音乐集成电路12的2脚接测量笔插座15,音乐集成电路12的3脚接电源10的负极和晶体三极管(SC9013)13的发射极,音乐集成电路12的4脚接晶体三极管13的基极,音乐集成电路12的5脚和6脚接电阻(240kΩ/1/8W)11,晶体三极管13的集电极接扬声器14的正极,将上述元件安装在绝缘壳体内,测量笔插座15暴露在装置的外部,便于在使用时与测量笔16连接。

在图1所示实施例中,具体测量方法如下:首先须根据待测工件表面形状来选择测量笔16的测量端具体形式,如果待测工件表面为平板型,则可选择测量笔16的测量端为滚轮;如果待测工件表面为非平板型,则可选择测量笔16的测量端为圆锥形。在选择好测量笔16的测量端以后,将测量笔16的连接端插入测量笔插座15中,然后将测量笔16的两个测量端与待测工件表面上的任意位置或指定位置相接触,如果本实用新型磷化膜测量装置不发出声音,则显示工件表面存在磷化膜;反之,如果在测量时,本实用新型磷化膜测量装置发出声音,则说明在工件表面的测量位置不存在磷化膜。按照上述方法,如此反复地在待测工件表面上测量若干点或若干区域,就可迅速判断工件表面是否存在磷化膜,以及工件表面磷化膜是否均匀分布。

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