[实用新型]衰减片测量仪无效

专利信息
申请号: 200920083461.4 申请日: 2009-01-19
公开(公告)号: CN201463807U 公开(公告)日: 2010-05-12
发明(设计)人: 徐建国 申请(专利权)人: 徐建国
主分类号: G01B5/06 分类号: G01B5/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 430074 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 衰减 测量仪
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种机械式小直径厚度测量装置,具体涉及一种衰减片测量仪。

背景技术

目前测量衰减片厚度通用的办法是用螺旋测微计,数显千分尺等用人手来旋转测量,对测量人员技术素质要求较高。而且千分尺精度是±0.001mm,平行度误差是0.001mm。某些品种的衰减片厚度尺寸误差要求小于0.001mm。用通用的办法很难判定衰减片合格否。只能靠最终测光学指标判定。

发明内容

本实用新型的目的为了为解决用通用办法测量衰减片很难判定合格否而提供一种衰减片测量仪。本实用新型在千分表测量头前加装一个浮动测头,可测平面而且浮动测头平面自行贴平零件平面。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:衰减片测量仪,由千分表、支架、把手、螺钉、底座、本体、软套、测头、测柱、保持套、弹性体、垫柱、支架和把手构成。千分表装入本体,软套套入千分表测量头,测头装入软套与测量头的钢球接触;垫柱装入本体,测柱压入垫柱,弹性体套入测柱,保持套套入测柱。使用时把衰减片放入保持套,测头下压至衰减片就可测厚度值。市面上购买的千分表一般误差0.003μm,需要精调至0.001μm以内,用块规作基准校核。

本实用新型的有益效果是有效地解决用测微计使用不方便,同时该测量仪提高了测量精度。

附图说明

图1是本实用新型的外形图。

图2是衰减片测量仪局部剖视图。

图中:1-千分表,2-支架,3-把手,4-螺钉,5-底座,6-本体,7-软套,8-测头,9-测柱,10-保持套,11-弹性体,12-垫柱。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明:

如图1、图2所示,衰减片测量仪由千分表1、支架2、把手3、螺钉4、底座5、本体6、软套7、测头8、测柱9、保持套10、弹性体11和垫柱12构成,千分表1装入本体6,千分表1的测量头套入软套7,测头8套入软套7并与千分表1测量头的钢球接触,本体6与底座5固定,测柱9压入垫柱12,垫柱12装入本体6,弹性体11套入测柱9,保持套10套入测柱9,支架2由螺钉4装在本体6上,把手3套入支架2上与千分表1尾部相联,压住把手3被测衰减片放入保持套中,轻放把手3测头8下降至零件就可测量了。

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