[实用新型]新型集成电路芯片测试机无效
申请号: | 200920097667.2 | 申请日: | 2009-07-08 |
公开(公告)号: | CN201434900Y | 公开(公告)日: | 2010-03-31 |
发明(设计)人: | 刘华;赵春莲;姚琳;张超;华锡培 | 申请(专利权)人: | 天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 天津盛理知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王来佳 |
地址: | 300384天津市华苑产*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 新型 集成电路 芯片 测试 | ||
技术领域
本实用新型属于集成电路芯片测试领域,尤其是一种新型集成电路芯片测试机。
背景技术
集成电路的设计、生产厂家在设计、生产集成电路芯片后,通常需要使用专用的芯片测试机对集成电路芯片进行测试,以识别坏片并进行标识,只有通过测试的集成电路芯片才能出厂销售,没有通过测试的集成电路芯片则不能出厂,为后道工序生产创造条件。目前,国内集成电路芯片测试主要包括集成电路芯片生产厂家自行测试和委托专业测试厂家测试两种模式。由于国内芯片生产厂家测试能力不足,专业测试厂家稀缺,使得芯片测试成为部分芯片产品及时投放市场的瓶颈;同时,由于芯片测试技术要求相对较高,成本较大,而专业的芯片设计企业一般不倾向于投资购买昂贵的测试设备,使得性价比高的自主研发的测试机、测试板卡需求应运而生。随着科学技术的不断发展,集成电路芯片的种类繁多,既有输入/输出信号全部为一种类型信号的集成电路芯片,如全数字信号芯片和全模拟信号芯片,也有输入/输出信号为不同信号类型的混合信号集成电路芯片,如输入为数字信号而输出为模拟信号的集成电路芯片,或输入为模拟信号而输出为数字信号的集成电路芯片。现有的芯片测试机通常只能对一种类型的集成电路芯片进行测试,而不能对多种类型的集成电路芯片进行测试,因此,造成集成电路芯片生产厂家需要购置多种类型的芯片测试机以满足其测试需要,这势必加大了集成电路生产厂家的设备投资,并增加了芯片测试机的运行维护成本。
发明内容
本实用新型的目地在于克服现有技术的不足,提出一种新型集成电路芯片测试机,该芯片测试机能够对多种类型集成电路芯片进行测试,降低了集成电路生产厂家的设备投入,并节约了设备的运行维护成本。
本实用新型解决其技术问题是采取以下技术方案实现的:
一种新型集成电路芯片测试机,包括机壳及其内部的测试机主板、交流信号卡组和直流信号卡组,交流信号卡组和直流信号卡组相互连接并分别安装在测试机主板上,该测试机主板分别与PC控制机、被测芯片载板相连接,其特征在于:在测试机主板上还安装有数模芯片测试卡和模数芯片测试卡。
而且,所述的交流信号卡组包括主控制测试存储卡、从控制测试存储卡、主时钟发生单元卡、从时钟发生单元卡;所述的直流信号卡组包括模拟缓存和电源监控卡、器件电源供电单元卡、测量单元卡、精密测试单元卡、参考基准卡。
而且,所述的模拟缓存和电源监控卡还通过PHI接口与设置在机壳上的探针/手柄相连接。
而且,所述的数模芯片测试卡上设有芯片测试电路,该电路包括第一主板接口模块、第一译码模块、第一FPGA处理模块、第一配置芯片及模数转换模块,第一主板接口模块通过总线与第一FPGA处理模块相连接,第一译码模块连接在第一主板接口模块和第一FPGA处理模块之间,第一配置芯片连接到第一FPGA处理模块上,第一FPGA处理模块分别通过控制端与模数转换模块、被测芯片载板相连接,通过数字信号输出端与被测芯片载板相连接,该被测芯片载板的模拟信号输出端与模数转换模块的输入端相连接,被测芯片载板的数据时钟信号及状态信号分别与第一FPGA处理模块相连接,该模数转换模块的控制端与被测芯片载板相连接,模数转换模块的输出端与第一FPGA处理模块的数字信号输入端相连接。
而且,所述的模数转换模块由2~8个模数转换子模块构成,其中每个模数转换子模块包括采样保持电路、第一差分放大器、可控增益放大器、缓冲器、比较器及四路模拟/数字信号转换器,被测芯片载板输出的单通道模拟信号和双通道模拟信号分别连接到采样保持电路和第一差分放大器的输入端,第一差分放大器的输出端与采样保持电路的另一输入端相连接,采样保持电路的输出端及FPGA芯片输出的增益控制信号分别连接到可控增益放大器的两个输入端,可控增益放大器的输出端分别连接到三个比较器的一输入端和缓冲器的输入端,三个比较器的另一输入端分别与三个基准电压相连接,缓冲器的输出端及三个比较器的输出端分别连接到四路模拟/数字信号转换器的输入端上,该四路模拟/数字信号转换器的输出端输出四路数字信号。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司,未经天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200920097667.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种激光雷达多通道探测分光器系统
- 下一篇:一种岩土工程相似试验系统