[实用新型]一种数字电路板通用测试系统

说明书

技术领域

本实用新型属于电子测量技术领域，涉及到一种电子测量系统，具体的讲是一种数字电路板通用测试系统。

背景技术

随着装备信息化程度的不断加强，数字电路已经成为电子装备的重要组成部分。其质量直接影响到装备整机的质量，其生产、维修和检验周期，直接影响到整机的研制速度和综合指标。因此，对数字电路的测试和故障诊断技术进行研究已经成为现代测试技术研究的重要领域。但是，大多数的测试系统都是针对整台设备或系统设计的，针对电路板进行测试的自动测试系统还不多见。

对于电路板的测试，国内目前有三种类型的测试仪器，一类是针对某一类电路板的专用测试仪器，主要硬件由51系列单片机配合其他外围器件构成，通过仪器面板上的开关对被测对象进行控制，通过其他仪表对输出信号进行测量，工作效率低下、准确度不高；另一类是在线测试仪器，可以在线或离线对电路板进行测试，具有强大的器件数据库，通过判断器件是否正常连线是否正确来检测整板是否存在故障，这种测试仪器由于没有提供对整板的功能和性能测试能力，而且价格也较为昂贵，所以目前仍不能大规模的推广应用；第三类是采用标准测试仪器，如基于VXI、PXI等总线接口的虚拟仪器，组建基于标准总线仪器的测试系统，但是此类系统不仅仪器价格昂贵，而且由于标准I/O测试仪器端口配置一般都是以8位为一组进行统一配置，不能进行任意端口的配置，因此为了实现信号任意配置需要添加矩阵开关模块或者信号转接模块，造成系统成本过高、体积庞大，给使用带来了很大不便。

发明内容

为解决既保证测量准确度高又实现对通用电路都能够进行测试的技术问题，本实用新型设计了一种数字电路板通用测试系统，可以将得到的测试向量自动转化为被测对象所需的测试程序，实现对电路测试的通用性。

本实用新型实现发明目的采用的技术方案是，一种数字电路板通用测试系统，以上测试系统包括带有CPU的主控通讯模块，测试系统包括安装有测试程序和自动测试生成系统的主计算机和测试执行的下位机，其中下位机的系统结构中包括与被测电路连接用的I/O端口模块、信号转接控制模块、主控通讯模块与主计算机连接的USB接口模块，主计算机控制输出的测试信号借助USB接口模块发送至主控通讯模块的输入端，主控通讯模块经信号转接控制模块放大、锁存后将测试信号通过I/O端口模块发送给被测电路，主控通讯模块读取I/O端口模块输出的响应信号，并将响应信号发送至主计算机。

以上系统电路原理是：被测电路与下位机连接，由主计算机发出测试指令，主控通讯模块将测试信号发送给信号转接控制模块，经过放大、存储处理后通过I/O端口模块发送给被测电路，被测电路将响应后的数据信息通过以上各模块反馈给主计算机。计算机将响应信息与标准信息对比，发现被测电路的故障。其中USB接口模块和I/O端口模块用于通讯信息的传输。

本实用新型的有益效果是系统结构简单、配置灵活、体积小、重量轻、便携性能好，适宜于外场使用；USB接口I/O可以实现端口任意配置，测试功能强，在无须增加硬件设计的前提下，可以满足不同型号的电路板测试需求；系统扩展性好，通用化、模块化、标准化程度高。

下面结合附图对本实用新型进行详细说明。

附图说明

图1是本实用新型的系统结构框图。

图2是本实用新型中信号转接控制模块的结构框图。

图3是本实用新型的系统模块实施例。

附图中，1是主计算机，2是下位机，3是I/O端口模块，4是信号转接控制模块，4A是配置端口模块，4B是激励输出端口模块，4C是响应读取端口模块，5是主控通讯模块，6是USB接口模块，FT245BM、74LS244、74LS373、TS5A23157是芯片，LC4128是CPLD系列芯片。

具体实施方式

参看图1，一种数字电路板通用测试系统，以上测试系统包括带有CPU的主控通讯模块，测试系统包括安装有测试程序和自动测试生成系统的主计算机1和测试执行的下位机2，其中下位机2的系统结构中包括与被测电路连接用的I/O端口模块3、信号转接控制模块4、主控通讯模块5与主计算机1连接的USB接口模块6，主计算机1控制输出的测试信号借助USB接口模块6发送至主控通讯模块5的输入端，主控通讯模块5经信号转接控制模块4放大、锁存后将测试信号通过I/O端口模块3发送给被测电路，主控通讯模块5读取I/O端口模块3输出的响应信号，并将响应信号发送至主计算机1。