[实用新型]X射线衍射-荧光双谱仪有效
| 申请号： | 200920105107.7 | 申请日： | 2009-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN201335815Y | 公开（公告）日： | 2009-10-28 |
| 发明（设计）人： | 江向峰;董连武 | 申请（专利权）人： | 布莱格科技(北京)有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207;G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张春和 |
| 地址： | 100871北京市海淀区中关村北大*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 射线 衍射 荧光 双谱仪 | ||
【权利要求书】：
1、一种X射线衍射-荧光双谱仪，包括X射线源，其特征在于，还包括：硅检测器、单道脉冲幅度分析器及多道脉冲幅度分析器，
所述X射线源产生X射线照射待测样品；
所述硅检测器对所述待测样品反射的X射线进行检测并将输出分送入所述单道脉冲幅度分析器及多道脉冲幅度分析器；
所述单道脉冲幅度分析器仅选通衍射波长，用于获取待测样品的X射线衍射谱；
所述多道脉冲幅度分析器用于获取待测样品的X射线荧光能谱。
2、如权利要求1所述的X射线衍射-荧光双谱仪，其特征在于，所述硅检测器的敏感区为长条形。
3、如权利要求1所述的X射线衍射-荧光双谱仪，其特征在于，所述硅检测器的能量分辨率优于180eV。
4、一种X射线衍射-荧光双谱仪，包括X射线源、常规检测器及单道脉冲幅度分析器，其特征在于，还包括：硅检测器及多道脉冲幅度分析器，
所述X射线源产生X射线照射待测样品；
所述常规检测器对所述待测样品反射的X射线进行检测并将输出送入所述单道脉冲幅度分析器，用于获取待测样品的X射线衍射谱；
所述硅检测器对所述待测样品反射的X射线进行检测并将输出送入所述多道脉冲幅度分析器，用于获取待测样品的X射线荧光能谱。
5、如权利要求4所述的X射线衍射-荧光双谱仪，其特征在于，所述硅检测器的能量分辨率优于180eV。
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