[实用新型]一种金标条检测系统无效

专利信息
申请号: 200920105710.5 申请日: 2009-03-04
公开(公告)号: CN201373849Y 公开(公告)日: 2009-12-30
发明(设计)人: 黄立华;王静;张友宝;王林;屈建峰;陈颖;黄惠杰 申请(专利权)人: 中国检验检疫科学研究院;中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/49 分类号: G01N21/49;G01N33/558
代理公司: 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 代理人: 尹振启
地址: 100025北*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 金标条 检测 系统
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种金标条检测系统,该检测系统可对金标免疫试纸条进行即时判读,实现对目标被检物的定量检测,从而实现对传染病、病原体、媒介生物携带病原、癌症标志物、心脏病标志物、各种激素、农药/兽药残留的快速诊断与检测。

背景技术

金标免疫层析技术是一种将胶体金标记技术与免疫层析技术相结合的快速现场检测技术,已广泛应用于医学诊断、细菌探测、环境及食品安全监测(农药残留)、兽医诊断、毒品检测、药物筛选、生物反应过程的动态监测以及科学研究等领域。胶体金免疫层析试纸条(以下简称为金标条)是免疫层析反应发生的载体,金标条检测带上聚集着与目标被检物相结合的纳米金颗粒,通过对纳米金颗粒的定量测量,实现对目标被检物的定量检测。

纳米金颗粒具有吸光特性,在大量纳米金颗粒聚集时,会显示出红色。在先技术中,主要通过目视对金标条检测带的颜色深浅进行判读,实现对金标条上目标被检物的定性测量。上述在先技术的主要缺点是:①只能实现定性测量,不能实现定量测量;②判断结果受目视者的主观影响较大,而且目视者对检测带颜色较浅的金标条(目标被检物为弱阳性)的判断易出错。

针对上述缺点,我们曾经提出一种“金标免疫试纸条的反射式光度计”的发明专利申请(申请号:200610029498.X),该光度计是利用扫描机构和光学系统实现对金标条的定量测量。上述在先技术的主要缺点为:①利用扫描机构对金标条进行定量测量,测量速度慢;②扫描机构较复杂,易发生故障;③光学系统较复杂,且较难调节;④数据量大,对软件、硬件要求较高;⑤用户操作较复杂,需要干预测量过程,如对测量曲线上的检测带和质控带的位置进行手动调节等。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足,本实用新型的目的在于提供一种简单、快速、灵敏的金标条检测系统。

本实用新型的技术解决方案如下:

一种金标条检测系统,包括标定试纸条、照明部件、遮光装置、光信号接收部件和信号处理单元,其中,

所述的标定试纸条表面性质均匀,用于在金标条检测系统对待检金标条进行定量测量前,对其上的照明部件和光信号接收部件进行标定;

所述的照明部件用于照射标定试纸条和待测金标条,并在标定试纸条和金标条表面形成高亮度且光强均匀分布的光斑;

所述的接收部件为PD阵列,用于感应标定试纸条和待测金标条表面在所述照明部件照射下产生的散射光信号;

所述的遮光装置设置在接收部件和标定试纸条或待测金标条之间,遮光装置上设置有透孔,接收部件通过与遮光装置上的透孔相配合,分别对待测金标条上各功能区域和功能区域之外的空白区域、以及标定试纸条上与待测金标条上各区域相对应区域的散射光信号进行采集;

所述的信号处理系统主要用于对接收装置采集的散射光信号进行处理和运算,并最终得出金标条上目标被检物的浓度。

进一步,所述遮光装置上的透孔为矩孔。

进一步,所述遮光装置上设置有矩孔阵列,该阵列中包含有若干个分别与金标条上的各功能区域和功能区域之外的空白区域一一对应的矩孔,接收部件分别与矩孔阵列中的各矩孔相配合,实现对待测金标条或标定试纸条上各不同区域散射光信号的采集。

进一步,所述待测金标条上的功能区域包括检测带、质控带,构成所述接收装置的PD阵列中包含一个用于感应金标条上检测带散射光的PD像元、一个用于感应金标条上质控带散射光的PD像元,以及用于感应功能区域之外的空白区域散射光的PD像元。

进一步,所述待测金标条上设置有若干个空白区域,相应地,所述遮光装置上的矩孔阵列中包含有若干个分别与所述空白区域一一对应的矩孔,所述PD阵列中包含有若干个分别与所述若干个空白区域一一对应的PD像元。

进一步,所述照明部件为由LED发光器件及其驱动电路构成的条形光源。

使用本发明金标条检测系统对待测金标条进行定量测量的方法如下:

步骤一:将标定试纸条置于金标条检测系统中,并打开照明部件照射标定试纸条;

步骤二:利用PD阵列接收装置感应标定试纸条表面的散射光信号,PD阵列输出信号经信号处理系统滤波、放大和采集,得到如下信号S1,S2…Sn+2,1≤n≤3;

步骤三:取出标定试纸条,放入滴加了样品的金标条;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国检验检疫科学研究院;中国科学院上海光学精密机械研究所,未经中国检验检疫科学研究院;中国科学院上海光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200920105710.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code