[实用新型]半波整流型漏电检测保护电路有效
| 申请号： | 200920106881.X | 申请日： | 2009-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN201402963Y | 公开（公告）日： | 2010-02-10 |
| 发明（设计）人： | 黄华道 | 申请（专利权）人： | 黄华道 |
| 主分类号： | H02H3/14 | 分类号： | H02H3/14;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 赵郁军 |
| 地址： | 325603浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 整流 漏电 检测 保护 电路 | ||
1、一种漏电检测保护电路，它包括用于检测漏电流的差动微分变压器(L1、L2)、控制芯片(IC1)、内置有铁芯的脱扣电磁线圈(L3)、可控硅(V4)、半波整流二极管(V1)；其特征在于：
该漏电检测保护电路通过半波整流二极管(V1)给控制芯片(IC1)提供工作电源，控制芯片(IC1)的工作电源管脚(6)通过半波整流二极管(V1)与电源火线相连。
2、根据权利要求1所述的漏电检测保护电路，其特征在于：该漏电检测保护电路还包括与复位按钮(RESET)联动的开关(K3)；
所述可控硅(V4)的阳极通过与复位按钮(RESET)联动的开关(K3)、内置有铁芯的脱扣电磁线圈(L3)与电源火线相连，可控硅(V4)的阴极与电源零线相连。
3、根据权利要求2所述的漏电检测保护电路，其特征在于：该漏电检测保护电路还包括一低电阻故障模拟测试电阻(R3)，该低电阻故障模拟测试电阻(R3)的一端与穿过差动微分变压器(L1、L2)的电源零线(WHITE)相连，另一端与处于断开状态的串联在电源零线供电电路中的开关(K2)的动触点相接触；
当与复位按钮(RESET)联动的串联在电源零线供电电路中的开关(K2)处于断开状态时，电源零线(WHITE)经该开关(K2)、穿过差动微分变压器(L1、L2)，再经低电阻故障模拟测试电阻(R3)与该开关(K2)的动触点接触构成低电阻故障测试回路，差动微分变压器(L1、L2)耦合在低电阻故障测试回路中产生自激振荡电流，模拟低电阻漏电故障；
当与复位按钮(RESET)联动的该开关(K2)处于闭合状态时，低电阻故障模拟测试电阻(R3)与开关(K2)的动触点断开，低电阻故障测试回路断开，自激振荡电流消失。
4、根据权利要求2所述的漏电检测保护电路，其特征在于：该漏电检测保护电路还包括一低电阻故障模拟测试电阻(R3)，该低电阻故障模拟测试电阻(R3)的一端与穿过差动微分变压器(L1、L2)的电源火线(HOT)相连，另一端与处于断开状态的串联在电源火线供电电路中的开关(K1)的动触点相接触；
当与复位按钮(RESET)联动的串联在电源火线供电电路中的开关(K1)处于断开状态时，电源火线(HOT)经该开关(K1)、穿过差动微分变压器(L1、L2)，再经低电阻故障模拟测试电阻(R3)与该开关(K1)的动触点接触构成低电阻故障测试回路，差动微分变压器(L1、L2)耦合在低电阻故障测试回路中产生自激振荡电流，模拟低电阻漏电故障；
当与复位按钮(RESET)联动的该开关(K1)处于闭合状态时，低电阻故障模拟测试电阻(R3)与该开关(K1)的动触点断开，低电阻故障测试回路断开，自激振荡电流消失。
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