[实用新型]一种柱面整形双探测器互补式异物检测装置无效
申请号: | 200920113568.9 | 申请日: | 2009-02-09 |
公开(公告)号: | CN201364316Y | 公开(公告)日: | 2009-12-16 |
发明(设计)人: | 詹秋芳;李劲松;高秀敏 | 申请(专利权)人: | 詹秋芳 |
主分类号: | G01N21/90 | 分类号: | G01N21/90 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310018浙江省杭州市下*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 柱面 整形 探测器 互补 异物 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型属于光学检测技术领域,涉及一种柱面整形双探测器互补式异物检测装置。
技术背景
异物检测装置通常是指在医药、饮料等生产和质检过程中,对透明或半透明药品、输液瓶、口服液等液体产品进行质量检测的装置。随着人们对药品和食品质量的日渐重视,以及国家对药品和食品质量检查制度、标准和流程的完善,医药、饮料等液体产品中的异物检测日渐成为必不可少的检测流程。目前,生产和质检实际过程中通常采用人工灯检测方法,即在一定灯照条件下,检测人员用人眼直接观测瓶装液体产品,检查液体产品中是否含有异物,以及含有异物大小、数量等。此方法人力和物力投入量大,监测效率和自动化程度低,并且检测标准难以控制调整。为克服人工检测的不足,自动检测技术及装置被研究和设计,在先技术中存在一种双信号接收的自动异物检查机(参见实用新型专利“双信号接收的自动异物检查机”,实用新型专利号:ZL200720074851.6),此装置中光路上依次设置有发光管组件、光发射集光镜、光接收集光镜、成像镜、分光镜,以及两个分光光路上设置的光阑和光接收传感器阵列,利用光路中光阑提高系统得信噪比和灵敏度,此装置具有一定的优点,但是仍存在不足:利用光阑提高系统得信噪比和灵敏度,信噪比和灵敏度提高程度有限;两个分光光路上的光接收传感器阵列前方均设置光阑,光阑不一致性会对检测性能产生影响,光能利用率低;光学系统构成复杂,同时,机械定位要求程度高。
发明内容
本实用新型的目的在于克服了上述在先技术的不足,提供一种柱面整形双探测器互补式异物检测装置。
本实用新型包括光源组件、光束会聚器件、柱面整形器、成像物镜组件、分光镜、第一光电探测器阵列、第二光电探测器阵列;光束会聚器件、柱面整形器、成像物镜组件、分光镜、第一光电探测器阵列依次设置在光源组件出射光束光路上,被检测瓶装液体产品设置在光束会聚器件和成像物镜组件之间的光路上;分光镜的分光面与分光镜入射光束光轴夹角范围为10°~170°;第二光电探测器阵列设置在光源组件出射光束被分光镜反射后的反射光路上;柱面整形器的柱面光轴方向与第一光电探测器阵列的光电传感单元排列方向的交角小于30°;第二光电探测器阵列的光电传感单元相对于入射光束的相对排列方向与第一光电探测器阵列的光电传感单元相对于入射光束的相对排列方向的交角小于30°;第一光电探测器阵列相对于入射光线主光轴的设置位置与第二光电探测器阵列相对于入射光线主光轴的设置位置存在错位设置。
所述的光源组件为非相干光源组件、相干光源组件、非相干光源阵列、相干光源阵列、光纤光源的一种。
所述的成像物镜组件为消色差物镜、复消色差物镜、平场成像物镜、偏振光成像物镜、相称成像物镜的一种。
所述的光电探测器阵列为光敏管阵列、光电二极管阵列、电荷耦合器件、互补型金属氧物半导体晶体管、光学微通道板的一种。
本实用新型有益效果是,与现有技术相比,由于采用了柱面整形器对光源组件出射光束进行非对称光束整形,整形后光束形状与光电探测器阵列的光电传感单元排列方向相符,提高了异物检测的灵敏度和信噪比,简化了系统结构,降低了实现所需费用以及机械定位要求。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
下面结合实施例对本实用新型做进一步的详细说明。
如图1,一种柱面整形双探测器互补式异物检测装置包括光源组件1、光束会聚器件2、柱面整形器3、成像物镜组件5、分光镜6、第一光电探测器阵列7、第二光电探测器阵列8;光束会聚器件2、柱面整形器3、成像物镜组件5、分光镜6、第一光电探测器阵列7依次设置在光源组件1出射光束光路上,被检测瓶装液体产品4设置在光束会聚器件2和成像物镜组件5之间的光路上;分光镜6的分光面与分光镜6入射光束光轴夹角范围为10°~170°;第二光电探测器阵列8设置在光源组件1出射光束被分光镜6反射后的反射光路上;柱面整形器3的柱面光轴方向与第一光电探测器阵列7的光电传感单元排列方向的交角范围小于30°;第二光电探测器阵列8的光电传感单元相对于入射光束的相对排列方向与第一光电探测器阵列7的光电传感单元相对于入射光束的相对排列方向的交角范围小于30°;第一光电探测器阵列7相对于入射光线主光轴的设置位置与第二光电探测器阵列8相对于入射光线主光轴的设置位置存在错位设置。
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