[实用新型]一种集散控制系统的性能测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种集散控制系统的性能测试装置。

背景技术

目前，集散控制系统在工业领域得到广泛的应用，并且成为工业生产过程的监控中心，其性能的可靠性对生产过程的安全和稳定构成了关键的影响。目前，还没有针对集散控制系统多项性能指标进行综合测试的装置。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是针对上述现有技术提供一种集散控制系统的性能测试装置，可以在集散控制系统运行时为工业过程安全、稳定运行提供技术保障。

本实用新型解决上述技术问题所采用的技术方案为：该集散控制系统的性能测试装置，其特征在于：包括

数据采集模块，其输入端与集散控制系统相连，输出端通过USB接口电路与计算机相连，用于测试集散控制系统AO通道的输出精度，或测试集散控制系统中央处理器单元的处理周期，或测试电源的冗余切换功能及切换时间，或测试控制器冗余切换功能及切换时间，或测试通讯模块的冗余切换功能及切换时间；

模拟量测试信号发生模块，其输入端与集散控制系统相连，输出端通过USB接口电路与计算机相连，用于测试集散控制系统的AI通道精度，或测试集散控制系统的串模抑制比，或测试集散控制系统的抗干扰能力；

脉冲信号产生模块，其输入端与集散控制系统相连，输出端通过LPT接口电路与计算机相连，用于测试集散控制系统的SOE的功能，或测试集散控制系统的站间时钟同步性，或测试集散控制系统的DO、DI通道防抖功能。

所述数据采集模块由八路模拟量输入开关集成电路、高速A/D转换集成电路、单片机集成电路、第一三态选通电路、第二三态选通电路、先进先出FIFO缓存电路、USB接口电路这7片集成电路组成，其中集散控制系统的8路模拟量输入信号与八路模拟量输入开关集成电路的8路模拟量输入引脚相连，八路模拟量输入开关集成电路的输入通道选择指令由单片机集成电路控制，八路模拟量输入开关集成电路的输出引脚与高速A/D转换集成电路的信号输入引脚相连，高速A/D转换集成电路的片选信号由单片机集成电路选择控制，高速A/D转换集成电路的高位输出引脚与第一三态选通电路相连，高速A/D转换集成电路的低位输出引脚与第二三态选通电路相连，第一三态选通电路、第二三态选通电路在单片机集成电路的控制下按照先低8位后高8位的顺序将高速A/D转换集成电路输出的转换后的数据依次送入先进先出FIFO缓存电路的输入引脚，先进先出FIFO缓存电路的状态通过单片机集成电路控制；先进先出FIFO缓存电路的数据输出引脚和USB接口电路的输入引脚相连，USB接口电路通过DMA方式读取先进先出FIFO缓存电路中的数据，数据读取和确认信号通过单片机集成电路控制，USB接口电路通过USB接口数据线和计算机的USB接口进行数据交换。

所述模拟量测试信号发生模块由单片机控制器、USB接口电路、数据存储电路、D/A转换电路、双线变送器组成，其中USB接口电路与计算机的USB接口连接用于接收计算机发送的数据文件，USB接口电路的输出端与数据存储电路的输入端相连，接受单片机控制器的控制；存储电路的输出端与D/A转换电路的输入端相连，并接受单片机控制器的控制；D/A转换电路的输出端与双线变送器相连，并接受单片机控制器的控制；双线变送器将电压信号转换为无源电流输出。

所述脉冲信号产生模块由8只光电耦合器组成，计算机的LPT接口电路P2～P9脚分别和8只光电耦合器的发光器正极连接，8只光电耦合器的发光器的负极与LTP接口电路的P25脚连接，8只光电耦合器的受光器的两输出端作为脉冲信号输出端。

与现有技术相比，本实用新型的优点在于：为集散控制系统的性能测试提供了方便的技术手段，为保证工业生产的安全、稳定运行提供了技术保证。

附图说明

图1为本实用新型实施例的系统结构框图。

图2为本实用新型实施例的数据采集模块的电路方框图。

图3为本实用新型实施例的模拟量测试信号发生模块的电路方框图。

图4为本实用新型实施例的脉冲信号产生模块的电路方框图。

具体实施方式

以下结合附图实施例对本实用新型作进一步详细描述。

如图1所示的集散控制系统的性能测试装置，包括数据采集模块、模拟量测试信号发生模块和脉冲信号产生模块，其中