[实用新型]基片清洗容器

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种基片清洗容器，具体地说，涉及在对用于生产半导体晶片的圆形硅基片，用于生产计算机磁记录存储器(HDD)介质的玻璃、陶瓷和铝质圆形基片，用于生产光学记录存储器光盘(CD)、数字通用光盘(DVD)塑料圆形基片，用于生产光学器件的玻璃圆形基片的抛光、清洗装置中，作为清洗基片的容器。

背景技术

圆形硅基片，玻璃、陶瓷、塑料和铝质圆形基片广泛应用于半导体、计算机、信息工业、及民用产品中。在基片的生产过程中，必需对基片反复进行碾磨、化学机械抛光(CMP，Chemical mechanical polishing)，通过使用去离子水(DIW)或化学品的湿法清洗工艺，去除残留在表面的化学物质、小颗粒和其它杂质，降低基片的表面粗糙度，提高基片的表面光洁性，从而提高产品的成品率。

在现有的基片抛光、清洗装置中，基片由基片传递组件和基片升降组件垂直放置于基片清洗容器中，清洗液体供给组件提供基片清洗容器清洗液体，同时供电给安装于基片清洗容器底部的超声波发生器，对基片清洗容器中的基片进行清洗。

现有的一种基片清洗容器，清洗液体供给组件安装在清洗容器外壁两侧，同时供给基片清洗容器所需的清洗液体。由于清洗液体的相向对流，造成清洗液体在基片清洗容器的紊流，不利于基片清洗容器内的小颗粒和杂质随溢出的清洗液体排出。现有的另一种基片清洗容器，清洗液体供给组件安装在基片清洗容器外壁一侧，供给基片清洗容器所需的清洗液体。溢出的清洗液体从基片清洗容器的另一侧排出，形成横向的液体流动。由于超声波发生器安装于基片清洗容器的底部，基片放在基片支撑架上，与基片支撑架一起垂直放入基片清洗容器中，横向的液体流动降低了超声波对基片表面的清洗效果，同时基片支撑架阻碍了清洗液体的流动，不利于基片支撑架内侧的小颗粒和杂质随清洗液体排出。因而降低了设备的清洗效果，延长了设备的清洗时间，从而影响设备的生产效率和基片的成品率。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型提供一种基片清洗容器，用于在基片的抛光、清洗装置中，作为基片清洗的容器。用于本实用新型的基片可以是圆形硅基片，磁记录介质基片，以及具有相似形状结构的其他圆形盘状基片。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种基片清洗容器，其特征是该基片清洗容器包括：内容器，用于存储基片的清洗液体；外容器，用于存储内容器溢出的清洗液体及清洗液体的循环；以及二组清洗液体喷嘴，用于供给内容器清洗液体；其中，外容器安装在内容器外壁上方，二组清洗液体喷嘴安装在内容器内壁下方两侧的斜面上。清洗液体供给组件经二组清洗液体喷嘴供给基片清洗容器清洗液体。清洗液体以一定角度达到基片和基片支撑架的底部。在基片清洗容器中的清洗液体从内容器底部上升至内容器顶部，再从内容器溢出至外容器。清洗液体的流向与超声波对基片表面的清洗方向一致，且与基片和基片支撑架在基片清洗容器垂直放置方向一致，有利于基片支撑架内侧和内容器底部的小颗粒和杂质随清洗液体排出。

前述的基片清洗容器，其中在内容器内壁下方两侧形成一定角度的斜面。

前述的基片清洗容器，其中二组清洗液体喷嘴安装在内容器内壁下方两侧的斜面上。

前述的基片清洗容器，其中所述的二组清洗液体喷嘴供给清洗液体的角度可是固定的，也可是可调节的。

本实用新型的有益效果是，基片清洗容器中清洗液体的流动方向有利于基片清洗容器中和基片支撑架内侧的小颗粒和杂质随清洗液体排出，且与超声波对基片表面的清洗方向一致，提高了抛光、清洗装置的清洗效果，从而提高了设备的生产效率和基片的成品率。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

图1是本实用新型基片清洗容器一个实施例的立体结构示意图。

图2是本实用新型基片清洗容器一个实施例的正面构造示意图。

具体实施方式

本实用新型基片清洗容器，用于在抛光、清洗装置中，作为清洗基片的容器。其中所涉及的基片，包括用于生产半导体晶片的圆形硅基片，用于生产计算机磁记录存储器介质的玻璃、陶瓷和铝质圆形基片，用于生产光学记录存储器光盘、数字通用光盘的塑料圆形基片，及用于生产光学器件的玻璃圆形基片。为方便说明，在下面实施例中所提及的“基片”是表示上述各种基片，用101表示。