[实用新型]一种圆度检测装置有效

专利信息
申请号: 200920135550.9 申请日: 2009-03-10
公开(公告)号: CN201364147Y 公开(公告)日: 2009-12-16
发明(设计)人: 杜利明 申请(专利权)人: 深圳太辰光通信有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 代理人: 王 睿
地址: 518040广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种圆度检测装置。

背景技术

现在,陶瓷材料与石英光纤热匹配性好,并且理化性能稳定,因此,以陶瓷插芯为核心器件的光纤连接器在光纤通信系统中得到了很快的发展。陶瓷插芯的内孔是否足够圆,将严重制约其品质。

目前,对于陶瓷插芯内孔是否足够圆的检测,主要是依靠人工完成。即:人工检测,插芯检测质量状况由检测员决定,这种检测方法很难保证产品质量的稳定性。而且,由于人工的效率较低,难以与生产的速度相匹配,这样很难实现产品生产规模化、高质量、高稳定性。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种自动对待测件的形状进行检测的装置。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的:

一种圆度检测装置,包括:用于放置待测件的待测件工作位、用于向放置在所述待测件工作位上的待测件发出检测光的发光单元、用于接收经过所述待测件的检测光并转换为相应电信号的光电转换单元,以及,用于处理所述光电转换单元传送来的电信号对待测件的形状进行判断的处理单元。

本实用新型所称的圆度检测,是指对待测件的形状圆满程度的检测,即通过实际的形状与目标设定的形状之间的对比,实现相应的检测目的,当然,所述圆度检测包括:检测圆形的待测件是否足够的圆。

采用上述技术方案,设待测件为陶瓷插芯,所述发光单元发出的检测光射到该陶瓷插芯端面上,则一部分检测光在陶瓷插芯的端面发生了反射,该反射光由所述光电转换单元将光信号转为相应的电信号传送给处理单元,进行处理分析。

通常,该处理单元为计算机,经过相应的处理后,所述陶瓷插芯端面可以以亮白图案的方式显示在处理单元上。而同时,另一部分检测光经过该陶瓷插芯内孔射向外界,而没有相应的反射光被所述光电转换单元接收,这样陶瓷插芯内孔就相应的以圆形黑色图案的方式进行显示,这样处理单元能够通过对上述图案进行拟合、分析计算,并最后获得该陶瓷插芯内孔检测值。当然,可以根据该陶瓷插芯内孔检测值来判断其质量状况,从而实现了检测自动化。

以上仅仅只是以陶瓷插芯为例,说明上述技术方案是如何自动的检测出任意待测件的形状是否符合设定的标准的。

进一步而言,所述发光单元包括:用于发出所述检测光的光源,以及,用于将所述检测光汇集射向所述待测件的光路汇集模块。

进一步而言,所述光源选择采用发光二极管。

采用上述技术方案,由于发光二极管的成本低廉,功耗较低,且发光具有很强的方向性,具有较好的实用效果。

进一步而言,所述光路汇集模块包括:反射镜和聚光孔;所述聚光孔设置在与所述待测件相应的位置,所述反射镜设置在所述光源附近,用于将所述光源所发出的检测光反射透过所述聚光孔到达所述待测件。

采用上述技术方案,能够使得检测光更有效率的发射到所述待测件上,进一步提高其实用效果。

进一步而言,所述的圆度检测装置还包括:用于调整所述聚光孔与所述待测件之间位置的调节单元。

采用上述技术方案,可以通过调整聚光孔的方式,来获得最佳的检测效果。

进一步而言,所述光电转换单元包括:透过所述聚光孔对准所述待测件的检测镜头、用于调整所述检测镜头焦距的微动滑台、用于将所述检测镜头采集的光转换为相应电信号的电荷耦合器件相机,以及,用于传送检测镜头汇聚的光到所述检测镜头的检测光通道;所述检测光通道的内壁采用螺纹结构。

采用上述技术方案,所述光电转换单元接收透过所述聚光孔的待测件的反射光,消除了其他杂光的干扰,能够进一步提高检测效果。而且,通过调节所述检测镜头的焦距,能够提高成像质量和检测效果。另外,由于所述检测光通道的内壁采用螺纹结构,能够有效的消除所述检测光通道内壁的光的漫反射,提高检测的质量。

进一步而言,待测件工作位包括:用于让所述待测件沿其滑动到相应位置的滑动斜面,以及设置在所述滑动斜面上,用于限制所述待测件的滑动槽;所述滑动槽沿所述滑动斜面为上宽下窄的结构。

采用上述技术方案,待测件能够沿所述滑动斜面和滑动槽,借助重力的作用,自动达到相应的检测位置。

进一步而言,所述滑动槽为V形结构,所述待测件工作位还包括:采用聚四氟乙烯,用于增加与所述待测件之间滑动的滑动条。

采用上述技术方案,非常容易实现自动固定于特定位置的目的,而且能够保证待测件与检测光路处于同一平面。

进一步而言,所述圆度检测装置还包括:用于调整所述光电转换单元与放置在所述待测件工作位上的待测件之间位置的X-Y方向调整机构。

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